脉冲涡流检测提离效应的抑制方法研究.pdfVIP

第十届无损检测学会年会论文集 脉冲涡流检测提离效应的抑制方法研究 吴少文，付跃文 (南昌航空大学无损检测技术教育部重点实验室，南昌 330063) 摘要：提离效应是脉冲涡流检测发展的主要障碍之一，检测信号由于受到提离效应的干扰而 容易使检测时产生误判。本文提出一种基于差分信号二阶微分零时刻值匹am,}-偿的方法。首先建 立相应的提离参考数据库，然后通过索引二阶微分零时刻值匹配其提离参考信号及计算补偿比并 利用补偿公式对提离效应进行抑制。实验结果表明该方法能够对多层金属结构的内部缺陷检测具 有较好的提离抑制效果。 关键字：提离效应；脉冲涡流；二阶微分 ReductionofLift—offEffectsfor PulsedCurrent Eddy Testing wuShao YBe-Well Wen，FU (Key ofNondestructive of Laboratory Testing，MinistryEducation， 330063，China) NanchangHangkongUniversity，Nanchang Abstract：Lift、offeffectisoneofthemainobstaclestotile of developmentpulsed current asit can eddy testing maskdefect new easily signals．Atechniquefor thelift—o“effectbasedonsecond—orderdifferentialvallies reducing at is alift—offrefeFencedatabasef【rst。anddeterminethe value startingpointproposed．Build iift—off ofexperimental inthe second—order signals inspectionbyindexing differentialvalueat inthelift—offreferencedatabase． startingpoint Thenthe is compensationratiocalculatedandd formuZaisusedto thelift—oHeffect． compensation suppress resultsshowthatthelift——offeffecthasbeen reducedininternal Experimental significantly defectdetectionofmulti—- metalstructurewith currentmethod． layer