ICP-AES轴向观察方式下的基体效应探究.pdfVIP

第四届西南、中南地区分析化学学术交流会会议论文集 ICP-AES轴向观察方式下的基体效应研究 卞群洲宋武元 (广州市出^境捡验检疫局510623) 摘要t以Ca基体列溶液中AI、Mg、Fe元素的影响研究了铺皇5_予件轴向观察方式下的基体干扰jt轴向观察方式时 对尾焰瓢不刚啦归嗣琳体的影响，研究了轴向观融扣删巨中·瞄酬圾偏离电删删托生的基件效应，通i朔∈ 取偏离和I煳的方式及选取台适的工作参数来消除基体干扰，铡定Ca基体中Al、Mg、Fc各元素．结果满意． 关睦诃：电感耦台等离子体原子发射光潜基体效应 1前言 检洌I器：电荷注^器件(CID)；积分时间：长波5s 过去，lcP．AEs煳削2采用径向观察方式，因短波10s。 此ICP-AES中基体干扰的研究就局限于此。近来，2．2试剂 ICP-AES光谣懈守睁舒搿毛琏i白向观察方式以脐1氐检 水：蒸馏水经离子交换：标准溶液：各元素国 出限。提高灵敏度．轴向观察方式光路长。信 家标准溶液；C帕哂：99．99％分析纯 号强度增强，但不同的温度梯度下的化学效应都能 2．3标准溶液的配制 观察到，两种不同的观察方式下的基体影响也就不 以AI、Mg、Fe各元素的国家标准溶液配制两 套系列犏御目掖，其中—套加入用盐酸溶解CaC03 —致．通过研究Ca基体对AI、Mg、Fe元素各谱 线的基体影响，得出元素大多数谱线轴向观测基体 的Ca溶液，使其浓度为1600ttg／nd。标准系列中 干扰要比径向观测严{辅多．在轴向观莠防式下对 AI、Mg、Fe各元素浓度如表1： Plasma尾焰以不同的方式处理，基体的影响也不同． 袁l标嘲嘲睬列 本文用以电荷耦合器件(CCD)作检测器的 l 2 3 4 5 Fc O n75 1．5 3 6 OPTIMA A1 0 15 3 6 12 3000XL型光谱仪及以电荷注入器件 Ca 0 n75 1．5 3 6 (CID)作检测器的IRIS光谱仪研究了ca-g+牦 3结果与讨论 轴向观测方式下的基体效应。通过选取合适的工作 3．1基体干扰 参数及偏离中心通道位置来减少和消除基体的影 配制Al、Mg、Fe浓B盼唰为6ppm、3ppm、 响。对样品进行了测定，结果满意． 3plxn的溶液，加入浓度从唰到3mo协Ica 2实验部分 基体，采用无基体ca的标准溶液作工作曲线。针 互1仪器与主要工作参数 OPTIMA 美国PE 3000)(L型光谱仪，参数如 下：离毵殳生器：40MHz；炬管及进样装置：可拆 嗣J 卸石英炬管配氧化铝样品喷射管。水平放置，Scott 各谱线，选取距离中心通道0nan、0．4ram、0．gram、 型双层雾化室，交叉雾化器，三通道媾动泵；分光 1．2ram、1．6mm位置处测定，以干扰百功量|PbI壤 m；检 系统：中阶梯光栅a；c11el】e