基于大尺度Potts模型的三维晶粒拓扑—尺寸系的研究.pdfVIP

November CHINA 4-8,Beijing 基于大尺度Potts模型的三维晶粒 拓扑一尺寸关系研究 秦湘阁1,2刘国权1 (1北京科技大学材料科学与工程学院，北京100083；2佳木斯大学材料科学与工程学院，佳木斯154007) 1 引言 多晶体材料的显微组织是由晶粒组成的、充满空间的三维结构，晶粒拓扑性质和晶粒尺寸之间存在一 定的关系，它对于理解多晶体组织的性质和晶粒长大过程具有重要的意义。 和Campopian013]利用球晶粒模型，导出了晶粒面数F和等体积球半径尺之间的抛物线关系。 然而三维晶粒拓扑—尺寸关系的实验验证是比较困难的，因为三维晶粒的拓扑性质难以在单一的二维 截面上获得，有限的实验结果主要来自很费时间的系列截面法【1．3】。 但是实验测量的晶粒数目一般比较少，从整体上很难达足够的统计精度。 相比之下，利用材料显微组织的计算机模型研究三维晶粒尺寸—拓扑关系则完全没有上述缺点。本文 利用大尺度Ports模型研究了三维晶粒的拓扑一尺寸关系，并与上述理论模型进行了比较。 2材料三维显微组织的Potts模型 稳态阶段的模拟组织中晶粒数目在l万个到1千个之间，极大地提高了显微组织尺寸和拓扑参数测量的统 计可靠性。 晶粒的面数F和体积y直接在三维模拟组织上进行测量，三维晶粒的切直径所是三个方向切直径的 平均值。而晶粒等体积球半径R=(3v，4巧)u3，晶粒等体积球直径D=(6V／Jr)¨3。 3结果及讨论 3．1与DeHoff-Liu模型的比较 一些假设，DeHoff等Ⅲ导出了晶粒界面数，与其平均卡规直径D丁之间的线性关系： F=2+(411)珥 (1) 它可以重写为It] F=2-I-(F-2)ur (2) 对切直径，这里称公式(3)为DeHoff-Liu模型。 不同晶粒数目模拟组织晶粒面数F与其相对平均切直径“r之间的关系示于图1，其线性关系拟合参数 列于表l。 ￡BQ避立l丛鱼墨逝X!!奠壁妇至!燮趔Q盟笪些￡Q奠鱼l堕墨墨!!QBS!垦l堕Q迎Y=垦基匹垒堑￡Q丛旦旦型塑!至￡蛋 November CHINA 4-8,Beiiing 45 45 40 40 35 35 30 30 25 25 ‰20 ‰20 15 15 10 10 5 5 O 0 0 O uT a) b) 图1不同晶粒渤港I}至≈组织晶粒面数F与其相对．平-均切直径蜥．之间的关系及其线性澎糟潴果，其中Ⅳ是晶粒数 目 表1不同晶粒数稳态模拟模拟组织的DeHoff-Liu模型拟合参数 晶粒数 测量的F 拟合的D 决定系数r2 9004 13．89649 13．90