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荧光玻璃元件的基础研究与小型读出仪的开发 绦崎和佳子1富本内香1’2牧大介10南严秀仁2馘田敏行3山本章佳1 1。株式会毒主手代匿Thechnol大洗疆究瑟 2．金泯簟橥大学高度材料研究中心 3．大阪大学大学院工学研究科 1前言 因为荧光玻璃具有元件之间的分散性非常小、无衰减、可无限反复读取、髯现性高等优点、作为辐射 探测器具有高可靠性、因此，被广泛用于各种使用辐射设施中。现在使用的荧光玻璃是银活性磷酸盐玻璃， 如果壤射照射银活性磷酸盐玻璃，在玻璃内部就会形成稳定豹荧光中心。因戈荧光中心宙紫外光激发两放 出与剂艇成比例的橙色光(RPL：Radio photo 心j乒常稳定、鞠便加热黉约400℃也不会消失。 但是，关于荧光玻璃RPL的发光机制至今滏未有过详细的解析报告。为了提离作为辐射探测器的玻璃 的性能，搞清RPL的发光机制是不可欠缺的，目前我们正在致力于荧光玻璃的基础研究。在本研究中，对 荧光玻璃盼激发及发光特性进行了研究。另外，针对用于测量RPL的读读出仪，正在研发比以往读出仪体 积更小、更简易读取的小型读出仪。 2发光原理 如果电离辐射照射镘活性磷酸盐玻璃，生成昀电子及空穴就被玻璃中的银离予(A矿)分别擒获，形戚 A矿、A矿+2个荧光中心。(Fig．1) (电子捕获) Ag++e—Ago A矿+04一Ag++(空穴捕获) electron GenerationofRPLcenters rig。1 电子发生后马上就被玻璃中的(A矿)捕获，而空穴一旦被P04四面体捕获后，随着时间流逝向A，迁 移，于是，A矿和Agr的生成过程就产生了对闻差。 ’ 260 同的最大特征。(TLD由于加热，OSL由于发光，使在捕获中心以及在准稳定状态捕获的电子和空穴随着加 热、发光而降到基底状态。) deetron ●_● ofRPLemission Fig．2．Model 3发光光谱 作所)测量吸收光谱和RPL发光光谱。 3所示。在X线照射后的荧光玻璃上可观测到 X线照射前后的荧光玻璃的吸收光谱如Fig 几个吸收峰值，在260nm、315nm、370nm有峰值。其中在315nm有最大吸收峰值。 图左端的峰值在x线未照射的玻璃上也同样可以看到，这不是囚辐射照射而引起的峰值。 WAVELENGTH(nIll) ofRPL Fig．3Opticalabsorptionspectra glass 将根据前面的吸收光谱的测量所求出的最大吸收峰植315nm的光作为激发光，所测的荧光玻璃的发光 2个成分。这些分离的成分可能分别干预ggo、Ag什荧光发生作用。 26l 【．毒一v净-I．_锨z幽}z_‘．重笛 WAVELRNGTH(nm) RPL ofRPL Fig．4 spectra glass 4