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第十届高功率粒子柬学术交流会议文集 等离子体焦点装置中子测试技术★ ‘ 耿涛 621900 中国工程物理研究院电子工程研究所四川绵阳919信箱523分箱 摘要；本文介绍了一种用于等离子体焦点装置 DPF装置 中子波形测量的塑料闪烁体探测器。并且我们利用俄罗斯中 子探测器和DPF装置对该塑料闪烁体探测器进行标定，确定其中子灵敏度．中子产额测量范围达到I旷n／p～lO“嘶，可蛆满足 DPF装置中子参数测量的需要- 关键词：等离子体；中子：探测器 Plasma 等离子体焦点装置 Dense Focus，简称DPF 作为一种快脉冲、大电流 几百千安至几兆安 的气体放电装置，主要由能源装置、触发装置和DPF腔体三部分组成，其工作原理如图1所示。它用较简单 就会强烈地辐射出各种粒子。DPF装置最初多用于受控核聚变研究，但随着人们对它研究的深入，发现DPF 更适合于作为各种脉冲辐射源，如离子、电子、x射线和中子等p．4 ，而具有更广泛的应用前景，因此DPF 装置作为脉冲辐射源．对其所产生各种粒子的探测技术研究就显得十分必要，目前我们主要开展DPF装置中 子参数测试技术研究工作。 火花开关 圈I DPF蓑1工作舜理示毫圈 1中子探测器设计 针对等离子体焦点装置中子参数主要在其中子波形测试技术方面开展研究，DPF中子波形可以在时间上 反应其焦点的中子辐射过程．目前DPF装置中子波形测试采用塑料闪烁体—光电倍增管探测器，简称PMT 探测器，其基本原理如图2所示：中子进入闪烁体使箕原子、分子电离和激发．当被电离或激发的原子和分 子退激时，一部分电离或激发能以光的形式释放出来，通过光导被收集到光电倍增管的光阴极后，发射出的 光电子再通过倍增收集到阳极，产生相应的波形信号11’21， 入射中子 围2中子波形探测器原理图 I．1中子波形探测器的构成 目前．我们设计的塑料闪烁俸一光电倍增管型探测器主要构成为：塑料闪烁体一sT40l型，光电倍增管 ‘作者简介：耿薅，男，1976年生，工程师，主要从事棱测试工作，电话：座机电话号码 -268· 第十届高功率粒子柬学术交流会议文集 闪烁体、光电倍增管等部件的选择以及分压器的调试要求都较高。 田3翟形探羽器结构外形圈 1．2中子参数测试 中心2．0m，并且将波形探测器放入壁厚为10ram的铅筒中，利用铅对x射线吸收截面高而对中子吸收截面低 的特性，屏蔽x射线；同时采用双屏蔽电缆传输波形信号，在实验过程中可以大大减少电磁干扰对测量信号 的影响，提高信噪比。在图4中子探测器输出的波形上通常会有两个峰：中子信号峰和x射线峰，它们都是 同一时刻从DPF焦点中辐射出来的．由于两者飞行速度的差异导致在输出波形上存在一定时间间隔，这个时 间间隔由探测器到DPF源的距离决定。 ； Cl蝴206峨 …每～；。n舢-嘉～； …t；t-一·；o-势…争-～i j ! 曼 ； §，矗鬈 “”；i”。’i“+。∥’； ≯霉戮0习 震 ‘ ； ≯ ： ’一 ‘’l ’；1 ’’∥’一； w+。一奢一一’：一弩渐≮ ；p哩”．…”￡～一≯一 二…0。。。蔗。。。≥瓤。： …蠢．。。蠹。童。。点。： 饕 善 i 蒡 ≤ | …”‘i”‘二i：”y“i ■ ‘ 藩?”4疆％’5箩牌‘；。9 ’’。j ^，yI‘ # -7I^”t 朗4中于波形鳔剥器精出泣形 2试验结果与分析 2．1中子波形面积与中子产额的关系 设DPF中子源为一各向同性点源。假设与探测器的距离为￡，其接收面积为＆。员0它对于源所张的立体 角为； mSo／Ep 瓯 1 假设在f时刻中子源强度为．to 0，距离中子源￡处的注置率为： 矿㈤2去Jo 0 则在工处到达闪烁探测器上的中子总数为： Ⅳ ￡ 舻 厶f渺 Se 又由于闪烁探测器距离中子源较远，对于闪烁探测器前的闪烁体上的各处，中子的注量率可视为均匀 将上式简化成： ．269． 第十届赢功率粒子束学术交流会议文集 4 哗 岛p 幻冲 啬jdo t dt 1n L- E 其中yo为脉冲中子产额。假设对于一个理想的艿函数中子脉冲信号，闪烁探测器的输出为^似，且探测 效率： s I 5 h t dt 现在将输入的中子脉冲的连续信号视为不同时刻的d函数脉冲信号的叠加，则输出信号的面积为： 上式表明，在闪烁探测器与中子源距离一定时，闪烁探测器的输出对时间的积分，即中子波形面积与中 子产额成正比恻。因此在试验时我们可以根据中子测试数据建立起中子波形面积S与中子产额L之间的对应 关系。 2．2中子波形探测器灵敏度标定 从以上理论分析可知：当闪烁探测器与中子源距离一定时，闪烁探测器的输出对时间的积分，即中子波 形面积与中子产额成正比。因