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受污染表面触点的高频特性研究 李雪清章继高 (北京邮电大学自动化学院，北京，100876) 摘要： 近年来，高速数字连接正成为主要研究对象，其中的触点也必须具有高质量和高的可靠性。除丁 继续研究直流(Dc)下接触系统的性能外．对高频(HF)下接触特点的研究也正日益重要。 本文致力于研究高频系统中受污染接触表面对信号传输所造成的影响．通过对受污染表面接触阻 抗的测试，研究在传输高频信号时接触阻抗随着接触点污染状况、信号频率的变化，从而为进一步分 析传输线路中插入接触阻抗的影响打下基础． 关键词：电接触接触阻抗污染 1引言 随着高速数据连接技术的不断发展，触点作为其中重要的一环，其对信号传输的影 响也越来越受到关注。根据传统的接触理论，传输系统中直流电阻的增加导致信号的劣 变，即信号劣变主要起源于触点处压降的增加。而随着数字传输速率的提高，传输阻抗 的变化和直流电阻的增大一样，对系统信号的传输造成不良影响。在高速系统中，由于 阻抗不匹配或传输不连续造成的信号反射是信号电平、质量劣化的主要原因。在诸多对 系统传输阻抗的研究中，都是将触点视作被忽略的单元，或是仅仅考虑接触电阻的影响， 因此有必要对触点在高频下的特性加以研究。 阻抗是用于表示电子电路、元器件以及制作元件所需材料特性的重要参数。在对电 子元器件的研究中可以发现，实际中使用的元器件的参数总是可以归结为主要部分和寄 生部分之和，表现为一个复杂的电路，由实部和虚部组成，随频率的变化表现不同的响 应特性。对于触点的研究也是如此。一般情况下，触点作为电路连接单元，是整个电路 连线的一部分，研究中主要考虑由于电流收缩或中间膜层等原因造成的压降的上升，即 接触电阻，但在交流以至高频情况下，触点同样也成为～个复杂的电路，除了接触电阻 外，还由于电路结构本身以及环境等因素具有各种寄生参数如电容、电感的影响。当频 率上升时，这些寄生部分的参数甚至会对电子连接电路造成较大的影响。 为了对触点的高频特性进行研究，以下通过对几种不同受污染表面的接触阻抗的洲 试，以取得受污染表面触点在高频信号下的特性，以便为后续的分析工作打下基础。 2测试设备及相关准备工作 141 21测试设备 l自动平衡电桥法 Fig 采用阻抗分析仪HP4194A。主要测试原理如图l。 通过被测件(zx)的电流亦流经R。因为通过I．V转换放大器的操作，过R的电流 与过被测件的电流达到了平衡，虚地点L处电势维持为0。这样被测件的阻抗就可以由 高端(H)处的测试电压及通过R的电流计算而来。实际上，在阻抗分析仪内部并没有 使用简单的运放，而是使用了复杂的零值检测器、相位检测器、积分器(环形滤波器) 及矢量调制器来保证宽频范围内的精度。 2．2测试准备及测试样品等要求： 由于试图着重研究表面污染可能对接触阻抗造成的影响，采用片状金属平面与半圆 形触头的接触形式。可对接触位置做x-y．向的移动，使其在表面形貌不同的点进行接触， 由此研究表面情况对接触可能产生的影响。在此。将接触平面置于一可实现平面移动的 工作台上。 测试样品采用磷青铜，表面以Ni为基底镀金，镀金厚度O．48um。分别针对加速腐 蚀样片(实验室内硫化加速腐蚀，腐蚀时间为48小时)、加速积尘样片(实验室内尘土 箱均匀积尘，积尘时间为48小时)等表面状况不同的情况，并结合测试接触压力(通过 改变触头与平面的接触压力，研究在不同接触压力下接触阻抗的变化)的变化，对接触 阻抗进行测试。 3测试结果 针对每一种样片均选取多个接触点进行测试．首先，作为参照物，测试清洁样片的 接触阻抗，见图2；然后，选取加速腐蚀样片上多个接触点在不同接触压力下进行测试， 其中三点在接触压力F=309时的阻抗测试曲线见图3；晟后，对积尘样片进行研究，其 中某点在不同接触压力下的阻抗测试曲线见图4． f42 ¨ =；