透射式柱面弯晶谱仪的单滤片能量刻度方法.pdfVIP

第 26卷第 1o期 强 激 光 与 粒 子 束 Vol_26，No．10 2014年 10月 HIGH POW ER LASER AND PARTICLE BEAM S Oct．，2014 透射式柱面弯晶谱仪的单滤片能量刻度方法 于明海 ， 胡广月1,2， 杨 涛 ， 安 宁。， 王秋平。， 赵 斌 ， 郑 坚 。 (1．中国科学技术大学 近代物理系，基础等离子体物理实验室，合肥 230026； 2．中国科学技术大学 中国科学院近地空间环境重点实验室，合肥 230026； 3．中国科学技术大学 核科学技术学 院，国家同步辐射实验室 ，合肥 230029) 摘 要 ： 根据布拉格衍射定律和晶层模型，推导了透射式柱面弯晶谱仪 的三维衍射光路 的理论公式，并 利用该理论研究了谱仪测量光谱的能量刻度问题。在考虑了实验中谱仪与光源的准直度和记录介质放置姿态 带来的误差后，发现利用多种滤片的K吸收边进行公式拟合得到弯晶谱仪能量刻度曲线的方法对低能x射线 谱线的误差较大，进而提出了用单滤片通过理论公式模拟计算进行谱仪能量刻度的方法。通过对透射式柱面 弯晶谱仪测量到的Ag靶 X光机的实验光谱进行能量刻度，实现了用单滤片在线定标弯晶谱仪，验证了理论公 式和能量刻度方法 的正确性 。 关键词： 透射式弯晶谱仪； 柱面弯晶； 三维衍射光路； 能量刻度； 硬 X射线诊断 中图分类号 ： O434．13 文献标志码 ： A doi：lO．11884／HPLPB201426．102006 在激光驱动的惯性约束聚变实验中，激光等离子体相互作用产生的超热电子会预热内爆靶丸从而影响靶 丸的低熵压缩过程，通过诊断内爆靶丸辐射 的硬 x射线可 以推测靶丸的燃料混合和预热程度，以及靶丸压缩 对称性、温度和密度分布等信息口]。利用短脉冲激光与固体靶相互作用产生的高能Ka辐射或轫致辐射对滞 止阶段的聚变靶丸进行康普顿背光照相，可以得到高空间分辨和时间分辨的靶丸面密度和对称性信息[5]。因 此 ，对激光聚变中硬 X射线进行精密诊断具有重要意义 。常见的硬 X射线的诊断设备有单光子电荷耦合器件 (CCD)_6]、罗斯滤片对 ]、滤片荧光谱仪[8]、滤片堆栈谱仪[g]、透射式柱面弯晶谱仪口。。等。透射式柱面弯晶谱 仪因其测谱范围广、能量分辨率高，在激光聚变实验中得到广泛的研究[1]，并在超热 电子产生和新型X光源 等方 向得到广泛应用。 为了获得透射式弯晶谱仪谱线能量和位置关系的能量刻度 曲线，实验上可 以利用不同靶材的X光管或多 种滤片进行标定 ，通过对实验测量谱上元素特征峰或 K吸收边 的谱线位置用公式进行拟合得到能量刻度 曲 线_1。’]。当弯晶谱仪的探测距离固定且使用互补金属氧化物半导体(CM0S)或 CCD等位置 固定的记录介质 时，这种方法是很方便实用 的。但对于使用成像板 (IP)作为记录介质的弯晶谱仪 ，由于成像板每次曝光后需要 从谱仪取下扫描信号，记录面位置不固定；此外，在不同实验条件下，谱仪的探测距离不同。这使得上述能量刻 度的方法对这类弯晶谱仪不再适用 。实验上通过在这类弯晶谱仪的狭缝处添加金属滤片，利用记录介质上的 K吸收边 的谱线进行公式拟合实现在线定标能量刻度[1。由于谱仪的结构限制，在狭缝处能放置的K吸收边 定标滤片不可能特别多，因此如果采用公式拟合 的方法进行能量定标 ，可能会因数据点不够多而产生大的拟合 误差 。同时，在狭缝处放置滤片也会引起记录到的光谱强度变弱、没有 K边干扰 的源谱范 围变小等 问题。因 此 ，需要更方便精确 的在线能量刻度方法 。 本文利用三维衍射光路的理论公式研究了透射式柱面弯 晶谱仪光谱的能量刻度问题 ，计算 了用公式拟合 进行能量刻度的方法的误差 ；为了消除该误差，提出了用单滤片通过模拟计算进行谱仪能量刻度的方法 ，并利 用银靶 X光机的光谱对提出的单滤片能量刻度方法进行了实验验证 。 1 三维衍射光路的理论计算 在理论计算中Cauchios[。3提出的透射式柱面弯晶谱仪 中的三维衍射光路，首先作一些基本假设：① 晶 体为薄晶体，X射线在晶体内仅衍射一次；②柱面弯晶为子午弯曲，在垂直于弯曲平面的方 向上没有形变，且晶