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2015年 仪 表 技 术 与 传 感 器 2015 第2期 Instrument Technique and Sensor No．2 基于FPGA的ADC 自检系统 李 戈，夏 威，李 雷 (电子科技大学电子工程学院，四川成都 611731) 摘要：在监测接收机 中要 实现快速 的ADC(Analog—To—Digita1)内核处理功能检测，针对这个 问题，提 出了一种基 于 ADC内置 自测 (BUILD．INSELF—TEST)技术 的ADC 自检 系统 。该系统 以现场可编程 门阵列 (FPGA)为核心，实现 了对 ADC检测的控制。经过测试 ，系统能够快速完成对ADC芯片内核处理功能的检测。 关键词：BIST；ADC；现场可编程门阵列；SPI；寄存器 中图分类号 ：TN919 文献标识码 ：A 文章编号：1002-1841(2015)02—0051—03 DesignofFPGA-·basedADC Self-testSystem U Ge，XIA W ei，LILei (SchoolofElectronicEngineering，UESTC，Chengdu611731，China) Abstract：InordertorealizetherapiddetectionofADC(Analog—To—Digita1)coreprocessingfunctionsinthemonitoringre— ceiver ．thispaperdesignedandrealizedanADCself-testsystem basedonADC’sbuild—inself—testfunctions ．Thesystem usedFPGAasitscoreandrealizedthecontrolofADCtesting．Testresultsshowthatthesystem canquicklycompletethedetection ofADCcoreprocessingfunctions． Keywords：BIST；ADC；FPGA；SPI；register 0 引言 的值相同的话说明ADC芯片内核处理功能正常，不相同则说 随着通信、计算机等技术的飞速发展和普及 ，数据采集系 明芯片内核已有损坏。 统迅速得以应用。ADC转换器是采集通道的核心，也是影响数 N 据采集系统速率和精度的重要因素。所以对 ADC内核性能的 测试 就显得尤为重要。目前有很多介绍内置 自测系统的著 作 ，但还没有详细地论述 ADC内置 自测功能使用方法的文 献。因此本文以监测接收机的模数转换器AD9265为背景，提 出了基于ADC芯片内置 自测功能的ADC 自检系统 ，此检测系 统适用于所有具有 BIST功能的 ADC，比如 AD6642、AD9231 等。BIST是一项用户可以调用的功能 ，它可以证明ADC芯片 的内核处理功能符合预期。 1 ADC 自检系统的FPGA实现 ADC自检系统FPGA实现的总体流程如图1所示。当FPGA 接收到启动ADC 自检的指令之后会通过SPI接 口将启动指令发送 给ADC，然后ADC会把一个PN序列送至转换器的数字模块并将 图 1 ADC 自检流程图 数字模块的输出与累加器相加。累加结果包含通过数字模块的所 BIST测试结果以简单的 “正确 ／不正确”方式确定器件是 有PN序列的和，累加器在BITS周期开始时清零。BIST检测之后 否在正常工作，最终的检测结果存储在ADC内部的寄存器中。 的结果会被放在多输入状态寄存器 (MISR)