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容错理论5应用
FauhTolerant
Theory＆Application
纳米器件容错方法
陈昕3，江建慧b
(同济大学 a．电子科学与技术系；b．计算机科学与技术系，上海201804)
摘要：进入新世纪以来，微电子技术继续按摩尔定律高速发展。与此同时，纳米电子技术进入应用阶段，
由于纳米器件的高缺陷密度本质，很多研究机构开始容错研究。概括地讲，由于依靠分子自组装制作纳米器件
时的化学和物理机制还不十分清楚，目前纳米芯片的缺陷在制作功能完整的电路时，必须通过容错方法加以避
免；集中了较多研究的方法是用缺陷地图来实现容错，依靠测试和诊断的方法确定缺陷的位置，可用在_以类FP—
GA器件和PLA器件为目标的设计中。
关键词：纳米器件； 自组装；容错；缺陷地图
中图分类号：TP302．8文献标识码： A 文章编号： 1003—353X(2007)增刊一0038—03
Fault
Toleranceof
NanoscaleDevices
CHEN
Xina，JIANGian-hui6
J
ElectronicsScienceand
(n．Dept．of Technology；
Scienceand
b．Dept．ofComputer Technology，Tongji 201804，Chi竹以)
University，Shanghai
Abstract：Sincethenew has with
century，microelectronics the of
keptrapidprogress pace
Moorelaw．At
thesame
time，nano-electrionicsis into tothe
technology
put application．Due
high
defect natureof research
density are into
nano-devices，many faulttolerance．In
agenciesengaged
thechemical
and mechanismsof
summary，because nano-devices
physical
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