单缝衍射暗条纹中心距的精确测量.pdfVIP

维普资讯 第 32卷第 8期 光 电工程 Vo1．32，No．8 2005年 8月 Opto-ElectronicEngineering August，2005 文章编号：l003-50lX(2005)08一OO44—04 单缝衍射暗条纹中心距的精确测量 王广丰，许洪强，潘宏歌 ，钟海娜 (辽宁工程技术大学 机械工程学院，辽宁 阜新 l23000) 摘要：由于较高次衍射条纹的光强很微弱，以及激光的漫反射和 CCD 器件本身存在的暗电流噪 声等原因，使得暗条纹中心距难以精确测量，这是单缝衍射法测量几何量申影响测量精度的主要 原因。为此，提出了分步滤波法和暗条纹中e·-C,]定条件。对衍。射条纹原始采集数据先进行过滤波， 再进行欠滤波，尽量消除干扰信号的影响，获得有用信号；利用最小二乘法对衍射条纹曲线进行 拟合，并利用二分搜索法对拟合曲线的波谷进行精确定位，就可较精确地得到暗条纹的中心位置 实验表明，暗条纹中心距的测量精度达到优于5gm的水平。 关键词：单缝衍射；CCD；信号处理；中心距测量 中图分类号：TP301．1 文献标识码：A Precisionmeasurementofthecenterdistanceof singleslitdiffracteddarkstripes WANG Guang-feng，XU Hong-qiang，PANHong-ge，ZHONG Hai-na (CollegeofMechanicalEngineering，LiaoNingTechnicalUniversity，Fuxinl23000，China) Abstract：Becauseofthefeeblelightintensity ofhighersequenceofdiffractionstripes，the diffuse reflectionoflaseranddarkcurrentnoiseinCCD，themeasurementofthecenterdistanceofdarkstripes iSdifficulttocarryout．Anditisthemainfactorwhichaffectstheaccuracyinmeasuringthegeometrical quantitybysingleslitdiffractiontheory~So，batchfractionalfilteringandjudgmentsofcentersofdark stripesareproposed．Theoriginalacquisition dataofdiffraction stripesisprocessedbyover-filtering first，then itisprocessed by deficient—filtering．They endeavorto eliminate the effectcaused by interferingsignalandobtaindesiredsigna1．Fittingcurveofdiffractionstripesisgotbymeansofleast squarefitting．Thewave troughsoffittingcurveareprecisely locatedby dichotomysearch ． So the centralpositionofdarkstripescanbegotprecisely．Themeasuringaccuracyofcenterdistanceofdark