双光束光电二极管阵列检测器的设计.pdfVIP

维普资讯 第 32卷第 l0期 光 电工程 V01．32，NO．1O 2005年 l0月 Opto—ElectronicEngineering Oct．2005 文章编号：1003—501X(2005)10—0062—04 双光束光电二极管阵列检测器的设计 申 爽 ，唐祯安 ，李 彤2 (1．大连理工大学 电子工程系，辽宁 大连 116024； 2．大连依利特分析仪器有限公司，辽宁 大连 116011) 摘要：由于普通光电二极管阵列检测器无法克服光源波动造成的影响，故设计开发了一种双光束 光电二极管阵列检测器。该检测器采用光导纤维束将光源发出的光分成两束，在斩光器的调制下 分时射入样品吸收池和参比吸收池。透射出的光信号通过光导纤维束射到狭缝上，被凹面光栅分 光成像于光 电_S-极管阵列上。在斩光器和后续电路的配合下，实现了在同一个光电二极管阵列上 信号光光谱、参考光光谱和暗电流的分时测量。由于采用参考光光谱和光电二极管阵列暗电流对 信号光谱进行实时补偿，可以使基线短期噪声降低为 1xl0-5Au，漂移降低为 1xl0-4AU／h。 关键词：双光束；光 电二极管阵列；检测器 中图分类号 ：TN311 文献标识码：A Designofdualbeam diodearraydetector SHEN Shuang ，TANG Zhen．an ，LITong (1．DepartmentofElectronicEngineering，DalianUniversityofTechnology，Dalian116024，China； 2．DalianEliteAnal3，ticalInstrumentsCo．，Ltd，Dalian116011，China) Abstract：Becausegeneraldiodearray detectorcannotavoid the noise and drift resulted from the intensityfluctuationoflightsource，adualbeam diodearraydetectorisdesigned．Therayoflightsource isdividedintosignalrayandreferenceraybyfibers．Thedualbeamsrespectivelyenterintothesample poolandreferencepoolafteritpassesthroughthechopper、Bothsignalbeam andreferencebeam are projectedintoaslitthroughfibersandimagedonthephotodiodearraybyconcavegratingrespectively． Thesignalspectrum，referencespectrum anddrakcurrentofphotodiodearraycanbemeasuredonthe same photodiode array underthecontrolofthe chopperand accessorialcircuits．Due to real—time compensationto signalspectrum isimplementedbyreferencerayandthedrakcurrentofphotodiode array，which can effectivelY depress the noise and drift，short—term noise and drift is reduced to 1