能量色散X荧光分析中元素间效应的蒙特卡罗模拟.pdfVIP

第25卷第1期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．25，No．1 HIGH 2013年1月 POWERLASERANDPARTICLEBEAMS Jan．，2013 文章编号： 1001-4322(2013)01一0215一04 能量色散X荧光分析中元素间效应的蒙特卡罗模拟+ 李 哲1， 庹先国2”， 张金钊1， 周建斌1， 刘明哲2 (1．成都理工大学地学核技术四川省重点实验室，成都610059； 9； 2．地质灾害防治与地质环境保护国家重点实验室，成都610053．西南科技大学，四川绵阳621010) 摘要：针对能量色散X荧光分析(EDXRF)技术中元素间效应实验研究的难点问题，采用蒙特卡罗方 法对基于Si(PIN)探测器的EDXRF系统建立模拟模型，并对模拟微束软X射线注量谱建立了高斯展宽算法。 对Fe—Ni样品进行模拟计算，表明经该算法展宽后的注量谱与实测K。系特征X射线谱吻合度较高，并得到了 各元素特征X射线归一计数与元素含量关系曲线，结果表明该方法可自行校正EDXRF中元素间效应，获得准 确的元素K。系特征X射线谱理论强度。 关键词： 能量色散X荧光分析； MCNP软件；高斯展宽； 元素问效应 中图分类号： 0657．3 文献标志码： A doi：10．3788／HPLP0215 是影响EDXRF技术分析准确度的关键问题，其中以元素间效应(包括吸收效应和增强效应)的影响为主。传 统的EDXRF分析中，多利用实验的方法对元素间效应进行分析和校正[3。4j，然而实验方法面临的问题是工作 量大、受可检出元素含量范围限制等，在边界条件下难以得到准确的校正，由此，将蒙特卡罗(MC)方法用于 EDXRF分析的研究在国际上亦得到了迅速发展[510。。MC模拟技术用于EDXRF分析，其优点主要在于可以 对实际的测量装置进行空间几何建模。虽然蒙特卡罗模拟考虑了X射线探测的整个物理过程，然而利用MC 模拟获得的X射线能谱与实际测量能谱之间依然存在着一定的差别[9]。在当前最常用的MCNP5软件中，对 微束软X射线(10 keV)的模拟效果较差，同时，其功能卡GEB展宽系数的计算准确与否依然会影响模拟能 谱的展宽效果¨…，因此，需要将探测器对X射线的高斯能谱响应特征与MC模拟结果相结合，实现与实验谱的 优化拟合。本文利用MCNP5模拟软件建立了EDXRF测量系统的蒙特卡罗模拟模型，并利用实验能谱特征， 建立基于正态概率分布的高斯展宽算法，实现对EDXRF中MC模拟注量的高斯展宽，对元素含量成梯度变化 的Fe。O。一Ni体系进行了MC模拟和元素间效应分析。 1测量装置与样品配制 1．1 EDXRF测量装置 EDXRF测量装置¨11是以X光管为激发源，且采用低能X光 sample 管与高压发生器分离式结构，选用电制冷Si(PIN)半导体探测器 eV(”Fe，5．90 (AmpTek，XR一100CR)，能量分辨为150～160 keV)，入射X射线与样品水平面夹角(入射角p)45。，探测器经准 直后与样品水平面夹角(出射角山)45。，见图1。Be窗厚度 O．125 mm，测量过程中X光管出射的原级X射线能量为12．5 keV，管流25．68雎A，环境温度保持25℃。每组样品测量3次， 每次测量3min，取3次测量结果对应道的平均计数率，构成最终Fi¨SchematicofEDXRFmeasurement equipment 分析能谱。 图1 EDXRF测量装置简化示意图 1．2样品配制 0813 修订日期：2012 *收稿日期：2012一06—26；