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- 约7.76千字
- 约 57页
- 2016-08-06 发布于重庆
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亮点,灭点 个数, 间距, 连续 成因: Active remain, S/D remain, Gate remain, P/T Invisible(不可见) 区分方法: 显微镜下看,哪层的remain,根据外形,颜色 发生在2个Line以上或X和Y发生Cross的现象 DDS:两条竖直的亮线 GGS:两条水平的白线 DGS:水平的暗线和一条竖直亮线?? 成因: 金属Remain 导电particle DGS中可以根据导电颗粒的 位置来确定短路处 SCRATCH在DATA PAD上发生 XY线看起来为亮线或灭线的现象 X?? ? ?(完全亮线) 跟contact missing的区别在于它的亮度不均 Y?? ?(薄线) 浅灰色的亮或者暗线,灰度不均,有的段很不明显 Gate set-Min 处确认 成因:ESD造成data和repair line 短接。 clean时候的pt造成open。 OPEN D-O: X线中间断掉的状态 成因 Chemical attack(AT) Particle Array DGS(-DO) Invisible 一段亮线,向一侧逐渐变浅 若 STORAGE LINE在中途断掉,则信号发生 DE
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