半导体集成电路电平转换器测试方法.DOCVIP

ICS31.200 L56 中 人 民 共 和 国 国 家 准 GB/T XXXXX—XXXX 半 Semiconductor intergrated circuits Measuring method of level converter （ XXXX - XX - XX 发布 XXXX - XX - XX 施  GB/T XXXXX—XXXX 目 次 目 次... ..I 前言... ...III 1 范 ... ..1 2 规范性引用文件 ... .1 3 术语和定义 ... ..1 4 总则 ... ..2 5 功能 ... .2 5.1 目的 ... .2 5.2 ... .2 5.3 测试程序 ... ...3 5.4 规定条件 ... ...3 6 静 ... ...3 6.1 输入钳位电压（ VIK） ... ...3 6.2 VIH） ... .3 6.3 VIL） ... .5 6.4 VOH） ... .5 6.5 VOL） ... .5 6.6 IIH） ... .5 6.7 IIL） ... .6 6.8 IOH） ... .6 6.9 IOL） ... .7 6.10 IOZH） ... ...8 6.11 平 IOZL） ... ...9 6.12 静ICCQ） ... ..10 6.13 △ICCQ）... .11 6.14 IOSL） ... ..12 6.15 IOSH） ... ...14 6.16 开启RON） ... ..15 6.17 通道 △RON ） ... .16 7 ... ..17 7.1 电源电流（ICC） ... ...17 7.2 最高工作 fMAX）... ..17 7.3 最低工作 fMIN）... ..19 7.4 CI 和CO） ... .19 7.5 (tPLH) ... .19 7.6 输出由高电平到低电平传输延迟时间 (tPHL) ... .21 7.7 输出由高阻态到高电平传输延迟时间 (tPZH) ... .22 7.8 输出由高阻态到低电平传输延迟时间 (tPZL) ... .23  GB/T XXXXX—XXXX 7.9 输出由高电平到高阻态传输延迟时间 (tPHZ) ... .24 7.10 输出由低电平到高阻态传输延迟时间 (tPLZ) ... ...25 7.11 输出由低电平到高电平转换时间 (tTLH） ... ...27 7.12 输出由高电平到低电平转换时间（ tTHL） ... ..28 7.13 眼图高度（Eye Height，eH） ... ...29 7.14 眼图宽度（Eye Width，eW） ... .29 7.15 输出确定性抖动（ Deterministic Jitter，Dj） ... .30 7.16 输出随机抖动 (Random Jitter,Rj，rms 值) ... ...31 7.17 输出总抖动（Total Jitter，Jt） ... .32 附录 A （规范性附录） 信号眼图 ... ...33 I  GB/T XXXXX—XXXX 前言 本标准按照GB/T 1.1-2009《标准化工作导则 第1部分：标准的结构和编写》给出的规则编写。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路标准化分技术委员会（SAC/TC78/SC2）归口。 本标准起草单位：深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信 息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司。 本标准主要起草人：宦承永、邬海忠、陆坚、魏军、王小强、罗彬。 II  GB/T XXXXX—XXXX 半导体集成电路 电平转换器测试方法 1 范围 本规范规定了半导体集成电路电平转换器（以下简称器件）电特性测试方法。 本标准适用于半导体集成电路电平转换器电特性的测试。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本 文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电