均值极差图X(-R图)分析.docVIP

均值极差图(X-R图?)分析 极差图R ?1、受控制的过程的极?差 ?★存在特殊原因变差 ?2、不受控制的过程的?极差(有超过控制限的?点) ? 解释： 超出极差上?控制限的点通常说明存?在下列情况的一种或几?种： 控制限计算错误?或描点时描错； 零件?间的变化性或分布的宽?度已经增大（即变坏）?，这种增大可以发生在?某个时间点上，也可能?是整个趋势的一部分；? 测量系统变化（如不?同的检具或检验员）；? 测量系统没有适当的?分辨力。 有一点位于?控制限之下（样本容量?大于等于7的情况），?说明存在下列情况的一?种或几种： 控制限或?描点错误； 分布的宽?度变小（即变好）； ?测量系统已改变（包括?数据编辑或变换）。 ? ★链——有下?列现象之一表明过程已?改变或出现种趋势： ?连续7点位于平均值的?一侧； 连续7点上升?或下降。 3、不?受控制的过程的极差 ?(存在高于和低于极差?均值的两种链) ? 4、不受?控制的过程的极差 (?存在长的上升链) ? 解释：? 高于平均极差的链或?上升链说明存在下列情?况的一种或全部： 输?出值的分布宽度增加，?其原因可能是无规律的?（如设备工作异常或固?定松动）或是由于过程?中的某个要素变化（如?材料变化），是常见问?题，需纠正； 测量系?统变化（如不同的检具?或检验员）； 低于平?均极差的链或下降链说?明存在下列情况的一种?或全部： 输出值的分?布宽度减小，这常常是?一个好状态，应研究以?便推广应用和改进过程?； 测量系统改变，这?会掩盖过程的真实性的?变化。 ★其它明显的?非随机的图形 5、不?受控制的过程的极差 ?(点离极差均值太近)? ? 6、不受控制的过?程的极差 (点离控制?限太近) ? 解释： 各点与?极差均值R的距离：一?般地，大约2/3的描?点应落在控制限的中间?1/3的区域内，1/?3的描点应落在其外的?2/3的区域内。 a?）如果显著多于2/3?以上的描点落在离极差?均值R很近之处（超过?90％的点落在控制限?1/3的区域内），说?明存在下列情况的一种?或全部： 控制限计算?错误或描点时描错； ?过程或取样方法被分层?；每个子组系统化包含?了从两个或多个具有完?全不同的过程均值的过?程流的测量值（如用几?根测量轴每一轴测一个?数）； 数据已经过编?辑。 b）如果显著少?于2/3以下的描点落?在离极差均值R很近之?处（少于40％的点落?在控制限1/3的区域?内），说明存在下列情?况的一种或全部： 控?制限计算错误或描点时?描错； 过程或取样方?法造成连续的分组中包?含从两个或多个具有明?显不同的变化性的过程?流的测量值（如输入的?材料批次混淆）。 ?均值图X 1、受控制?的过程的均值 ? ★存在特殊?原因变差 2、不受?控制的过程的均值 (?有超过控制限的点) ? 解释： 超?出控制限的点通常说明?存在下列情况的一种或?几种： 控制限或描点?错误； 过程已改变，?或是在当时的那一点（?可能是一件独立的事件?）或是一种趋势的一部?分； 测量系统变化（?如不同的检具或检验员?）。 ★链——有下列?现象之一表明过程已改?变或出现种趋势： 连?续7点位于平均值的一?侧； 连续7点上升或?下降。 3、不受控制?的过程的均值 (出现?两条高于和低于均值的?长链) ? 4、不受控制的过?程的均值 (长的上升?链) ? 解释： 与过程均值?有关的链通常表明出现?下列情况之一或两种：? 过程均值已改变——?也许还在变化； 测量?系统已改变（漂移、偏?差、灵敏度等） ★其?它明显的非随机的图形? 5、不受控制的过?程的均值 (点离过程?的均值太近) ? 6、?不受控制的过程的均值? (点离控制限太近)? 解?释： 各点与过程均值?X的距离：一般地，大?约2/3的描点应落在?控制限的中间1/3的?区域内，1/3的描点?应落在其外的2/3的?区域内。 a）如果显?著多于2/3以上的描?点落在过程均值X很近?之处（超过90％的点?落在控制限1/3的区?域内），说明存在下列?情况的一种或全部： ?控制限计算错误或描点?时描错； 过程或取样?方法被分层；每个子组?系统化包含了从两个或?多个具有完全不同的过?程均值的过程流的测量?值（如用几根测量轴每?一轴测一个数）； 数?据已经过编辑。 b）?如果显著少于2/3以?下的描点落在过程平均?值X很近之处（少于4?0％的点落在控制限1?/3的区域内），说明?存在下列情况的一种或?全部： 控制限计算错?误或描点时描错；