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集成电路电磁兼容性标准与测试 张海东 （陕西海泰电子有限责任公司电磁兼容事业部） 摘 要：本文介绍了集成电路电磁兼容测试的相关标准和测试方法。对其中的 1 Ω/150 Ω直接耦合法和工作 台法拉第笼法进行了详细介绍和分析，并提出集成电路电磁兼容测试平台解决方案以满足各相关行业测试 需求。 关键字：集成电路、电磁兼容、标准、测试 1 前言 世界范围内电子产品正在以无线、便携、多功能与专业化的趋势快速发展，纯粹的模拟 电子系统越来越难以进入人们的视线；取而代之的集成电路在数字电子产品与电子系统中扮 演了“超级明星”的角色，而这名主角被接纳的程度也在随着集成电路产业的发展不断加深， 从 1965 年 Gordon Moore 提出摩尔定律至今，集成电路一直保持着每 18 个月集成度翻番、 价格减半的发展趋势，这为集成电路的大范围、多层次应用奠定了基础。尤其是在消费电子 产品领域，这种发展趋势尤其明显，mp3 播放器、移动电话、数码相机等产品的普及是个很 好的说明。 同时，这种快速的发展也造成了电子系统电磁兼容性问题的日益突出，更高的集成度和 使用密度，使片内和片外耦合的发生机率大大提高。在电子产品和电子系统中，通常集成电 路是最根本的骚扰信号源，它把直流供电转换成高频的电流、电压，造成了无意发射和耦合。 而当其输入或供电受到干扰时，误动作的可能性将大大增加，甚或造成硬件损坏。 这种情况下，如何衡量集成电路电磁兼容性的问题日渐凸显出来。这种衡量方法，或者 称作新的测试标准和测试方法，将作用于集成电路的设计、生产、质量控制、采购乃至应用 调试等诸多方面，成为整个集成电路相关产业的关注焦点。 2 集成电路电磁兼容测试的标准化 最早涉足元器件级电磁兼容研究领域的美国军方，早在 1965 年就对核爆电磁场对导弹 发射中心设备的影响做出了研究，并开发了专门的 SPECTRE 软件，用于模拟核辐射对电气 电子元件的作用。在随后的二十多年中，各种仿真模型、测试方法和统计结果不断涌现，在 集成电路电磁兼容领域积累了大量的理论基础和可供分析比较的实测数据。 其中主要测试方法包括： 北美的汽车工程协会（SAE）建议的使用TEM 小室测量集成电路的辐射发射； SAE 提出的磁场探头和电场探头表面扫描测量集成电路的辐射发射； 荷兰某公司建议的使用工作台法拉第笼（WBFC ）进行集成电路传导发射测量； 德国标准化组织 VDE 建议的使用 1 Ω电阻进行地回路传导电流测量； 日本的研究人员建议的使用磁场探头进行传导发射测量； Lubineau 和 Fiori 等人对抗扰度测试方法和试验结果的研究等等。 至 1997 年 10 月，国际电工委员会（IEC ）第47A 技术分委会下属第九工作组（WG9 ） 成立，专门负责对各种已建议的测试方法进行分析，最终出版了针对 EMI 和 EMS 的工具箱 式的测试方法集合——IEC 61967 系列和 IEC 62132 系列，内容分别如表 1、表2 所示。 表 1 集成电路电磁兼容测试标准 IEC 61967 系列 150kHz到 1GHz 频率范围内集成电路电磁发射测量 分部分 内容 第一部分 通用条件和定义 第二部分 辐射发射测量方法——TEM 小室法 第三部分 辐射发射测量方法——表面扫描法 第四部分 传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法 第五部分 传导发射测量方法——工作台法拉第笼法 第六部分 传导发射测量方法——磁场探头法 表 2 集成电路电磁兼容测试标准 IEC 62132 系列 150kHz到 1GHz 频率范围内集成电路抗扰度测量 分部分 内容 第一部分 通用条件和定义 第二部分 辐射