电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铝锰铁中硅和磷.pdfVIP

电感耦合等离子体原子发射光谱法 测定铝锰铁中硅和磷 耿新1。陈克仲2，孙鹏1，窦成2，朱晓明1 (1．辽宁科技大学化工学院，鞍山114051；2．辽宁鞍山钢铁股份有限公司质量检验中心，鞍山114002) nm 摘要：采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铝锰铁中硅、磷的含量。选择178．242 和251．611 nm作为磷、硅的分析谱线，可消除谱线的重叠干扰。使用与分析样品基体相接近的标 准样品和相同的测定条件，可克服物理干扰，并比较了酸、碱熔样方式对待测元素的影响。本法已 应用于铝锰铁样品中硅、磷的测定，对照试验测定结果的相对标准偏差(咒一6)不大于7．o％。 关键词：电感耦合等离子体原子发射光谱法；铝锰铁；硅；磷 中图分类号：0657．31 文献标志码：A 文章编号：1001—4020(2015)01一0043一03 ICP--AESDete珊inati蚰ofSili咖锄d Phosphor吣in Fen．oal哪in哪】Ⅵ锄ganeseAUoy GENG x甜，a珏：N Ke-zh伽孑，suNP色n矿，Douchen乎，zHuxia0-IIliIl91 (1．S咖00Z S姚ZS幻旋cD．，L耐．，A竹s施行114002，吼i绷) 2．J行spPctio挖C锄￡Pr盯Q蚍Z叻，A竹晓口行Jr0竹n孢d to siliconand inferroal啪inun Abst嗡ct：ICP．AESwasuseddetemine alloy． phosphorous Hlar培anese m mwereusedasthe linesforsiliconand o“78．242and251．611 amlytic Wavelengths phosphorous，which couldelirninate interferenceof line．The interferenceswereeliminated overlapping spectral physical byusing standardsi商lartotheImt“xesofthe atthes锄e conditions．IⅥeanwhile，theeffects saII]Iple amlytes experinlental oftheacidorbasicsolv朗tswere methodⅥmsusedinthedetemimtionofsiliconand in compared．The phosphorous contmlledtrials、Ⅳasnotlnorethn ferroal吼inumHlaIlgaIlesealloy．TheRSD(押一6)of 7．0％． alloy；Silicon；Phosphorous KqW0“ls：ICP-AES；FerrOal岫in啪manganese 铝锰铁是炼