第三章系统架构.PDF

第 三章 系統架構 本光電檢測系統與一般可見光光電檢測單元架構相似，使用雷射 二極體當光源使用，PIN光電檢知器為受光元件 。 圖 3-所示為1 短波紅外光電檢測 系統穿透率量測裝置方塊圖， (1)雷射二極體發射電路 (2)PIN 光電二極體接收電路及 (3)信號處理 單元 PIN 光電二極體檢知 雷射二極體 接收電路 信號處理單元 發射電路 待測鏡片 圖 3-1 短波紅外光電檢測 系統方塊圖 3.1雷射二極體發射電路 本次實驗雷射二極體650nm使用 QSL 公司型號QL65D5S-A ，光功 率(Po)5mW ，閾值電流(Ith)21mA ；另一組雷射二極體使用980nm使用 友嘉科技公司型號 U-LD-982561A ，光功率(Po)25mW ，閾值電流 (Ith)12mA ， 圖 3-2為雷射二極體驅動發射電路方塊圖。 雷射二極體驅動及穩壓電路 自動功率控制電路（APC ） 雷 射 光 邏輯振盪電路 （8.9KHZ ） 圖 3-2雷射二極體驅動發射電路方塊圖 由於須將雷射二極體發射光訊號調變，故使 DS75451的 A腳位保 持高電位，B腳位輸入方波振盪電路產生波形，再將 Y腳位輸入至雷 射二極體 LD腳位，來做為與外界光雜訊的區隔。圖 3-3 為 DS75451 邏輯閘圖及真值表。 圖 3-3 DS75451邏輯閘圖及真值表 在圖 3-4中， LM358用來監控雷射二極體 PD腳位光功率輸出比 較，第 5腳位設一個參考電壓 (Vref)約2.5V ，參考電壓設定以不超 過雷射二極體操作電壓(Operation Voltage) ，NE555 IC及 DS75451 為振盪輸出設 定頻率約為 8.9KHZ 、Duty cycle 為 50% ，如圖3-5所 示 圖 3-4雷射二極體驅動發射電路 圖 3-5 振盪邏輯電路及帶通濾波電路輸出頻率 3.2 PIN 光電檢知二極體接收電路 本研究短波紅外 光電檢測系統設計的完整方塊圖，如圖3-6所示 。 光信號 電流信號 電壓信號 信號量測 光電檢知器 前置放大電路 濾波電路 圖 3-6短波紅外光電檢測電路方塊圖 當雷射二極體發射輸出後，產生之光信號由光電檢知二極體接收 光電流後，再由運算放大器OPA 來將電流轉換成電壓放大 。 如圖 3-7及公式 3-1所示 。 R2 VCC UA741 4 5 R1 -