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100nm GaAs MHEMT器件研制 Fabrication of 100 nm T-gate GaAs MHEMTs
第32卷第6期 固体电子学研究与进展 voI.32.No.6
0FSSE Dec.,2012
2012年12月 RESEARCH&PROGRESS
amGaAs
100 MHEMT器件研制
康耀辉+ 徐筱乐 高建峰 陈 辰
(南京电子器件研究所,微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室,南京,210016)
2012—07—07收稿,2012-08—23收改稿
GaAs
nrflt的高性能InomAIn48As/Inm53Gao.‘7AsMHEMT(渐变
摘要:应用电子束直写技术成功制作了栅长i00
组分高电子迁移率晶体管)。从工艺角度,结合器件的小信号等效电路的理论分析,优化了器件T形栅尺寸与工艺,
MHEMT饱和电流达
从而减小了器件寄生参数,达到了较好的器件性能。最终制作的Ino.szAIomAs/Ino—Gao—As
到460mA/mm,夹断电压一o.8 V时的最大非本征跨导g。为940mS/mm,截止频率厂t达到220
V,在%为一o.23
GHz。
GHz,最大振荡频率厂m。大于200
关键词:渐变组分高电子迁移率晶体管;T形栅;截止频率
中图分类号:TN386文献标识码:A 文章编号:1000—3819(2012)06—0548—03
MHEMTs
Fabricationof am GaAs
100 T-gate
KANGYaohuiXUXiaoleGAO CHENChen
Jianfeng
DnMonolithic CircuitsandModules
(Scienceand Laboralory,
Technology Integrated
ElectronicDevices
Nanfing Institute,Nanjing,210016,CHN、
i00nm GaAs elec—
Abstract:Inthiswork,a 53Gao.t7Asmetamorphichigh
InO.52AlO.48As/InoI
fabricatedE—beam aviewto
tron transistors(MHEMTs)was
mobility using lithography.With
the circuit
the of ba
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