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10位双极数模转换器的电离辐射效应 Ionizing Radiation Effect of a 10-bit Bipolar DA Converter
第29卷第t期 固体电子学研究与进展 V01．29。No．4
2009年12月 OF Dec．．2009
RESEARCH＆PROGRESSSSE
产pppp、p≮9Ⅵ
，硅微电子学‘
”一一一p一一毒
10位双极数模转换器的电离辐射效应
王义元1’2 陆 妩r 任迪远1 郑玉展1’2 高 博1’2 李鹏伟1·2 于 跃t，z
(1中国科学院新疆理化技术研究所，乌鲁木齐，830011)(2中国科学院研究生院，北京，100049)
2009·05—18收稿．2009—07一Ol收改稿
摘要：研究了国产互补双极工艺生产的数模转换器(D／A转换器)在不同偏置和不同剂量率条件下的电离辐射
效应及退火特性。研究结果表明：D／A转换器对偏置条件和辐照剂量率都很敏感。大剂量率辐照时，电路功能正常，
各功能参数变化较小；而在低剂量率辐照情况下，各参数变化显著．超出器件允许范围，器件功能失效。因此，D／A
转换器表现出明显的低剂量率辐射损伤增强效应(ELDRS)。零偏时，D／A转换器功能参数损伤变化更加严重。最
后，结合边缘电场效应和空间电荷模型对这种不同偏置和剂量率条件下的损伤机理进行了初步的探讨．
关键词：双极数模转换器；”Co
y辐照；低剂量率辐射损伤增强效应；偏置条件
中图分类号：TN431}0571．33文献标识码：A 文章编号：1000—3819(2009)04—551．05
RadiationEffectofa10—-bit Converter
D／A
Ionizing Bipolar
WANG LUWulREN ZHENGYuzhanlt2
Yiyuanl’2 Diyuanl
GAO1301’2LI YUYuel’2
Pengweil’2
TechnicalInstituteof
QXinfiang PhysicsChemistry，Chinese
(ZGraduateo|Chineseof
University AcademySciences，Beijing，100049。CHN)
effectsand
Abstract：Radiation characteristicsofa current D／A
annealing bipolar steering
converterhavebeen indifferentbiasesanddose—rates．Theofthe
investigated responseD／A
converterissensitiveto the and
bothbiases dose—rateirradiation，the
dose—rates．During D／
high
Aconverterworkswell．ButunderlOWdose—ratecondition。the ofthe convert
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