电子显微镜电子显微分析tem,sem.doc

实 验 报 告 电子显微镜技术（TEM﹠SEM 姓名：韩银龙 学号：201021140037 院系：物理系 实验报告 一、实验名称 电子显微镜技术（TEM﹠SEM）当一束聚焦电子沿一定方向射到样品上时，在样品物质原子的为库仑电场作用下，入射电子方向将发生改变。此现象称散射。可分为两种：弹性散射和非弹性散射。弹性散射，只改变方向，无能量变化；非弹性散射， 不仅改变方向，能量也有不同程度的衰减，衰减部分转变成热、光、射线、二次电子等有用的信息，如图1所示。 图1 （a）入射电子产生的各种信息 （b）信息深度和广度范围 1、二次电子 当入射电子与原子核外电子相互作用时，会使原子失掉电子而变成离子，这种现象叫电离。上述过程中脱离原子的电子就是二次电子。从距表面10nm左右深度范围内激发出来的低能电子（50eV）。 二次电子信息是扫描电镜成像的主要手段。 二次电子主要特点： （1) 反映样品表面起伏，对样品表面形貌敏感 如图2所示，二次电子的产率大小顺序为：abde or f(边缘效应),abdc(尖端效应) 。 图2 二次电子产生率 （2） 空间分辨率高 尽管在电子的有效作用深度内都可产生二次电子，但因其能量很低，只有在接近表面10nm以内的二次电子才能逸出表面，可以接收。这种信号反映的是一个与入射束直径相当的、很小体积范围的形貌特征，具有较高的空间分辨率。目前扫描电镜中二次电子成像的分辨率可达3~6nm之间， 透射电镜可达2~3nm。 （3）信号收集效率高 2、背散射电子 入射电子累计散射角超过90o ，重新从表面逸出，称为背散射电子。从距表面0.1～1μm深度范围内散射回来的入射电子，能量近似入射电子能量。 背散射电子主要特点： （1）对样品物质的原子序数敏感 背散射电子产生额（发射效率）δBE随原子序数Z的增大而增加，因此，背散射电子像的衬度与样品上各微区的成分密切相关。 （2）分辨率及信号收集率较低 背散射电子的成像的空间分辨率通常只能达到100nm。但是近年来，采用半导体环形检测器，分辨率可提高到6nm。 3、特征X射线 一个原子在入射电子的作用下失掉一个K层电子，它就处于K激发状态，当一个外层电子填补了这个空位以后，电子从高能级跃迁到低能级，有特定值的能量释放出来，产生的X射线就称为特征X射线。发射深度0.5～5μm范围。 从特征X射线能谱峰位置确定元素,从峰面积确定元素相对含量。 能普仪（EDS）就是利用特征X射线对试样进行元素定性及定量分析的。 4、透射电子 当试样薄到比电子的有效穿透厚度小得多时，就会有相当数量的电子穿透试样而在样品的下方检测到，该电子称透射电子。它与穿过微区的厚度、晶体结构和成分有关。是透射电子显微镜（TEM）的成像信号，主要用到以下三种效应： （1）质厚衬度效应 样品上不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可以引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，称这一现象为质厚衬度效应。 （2）衍射效应 当入射电子束都是恒定的单色平面波，照射到样品上产生弹性相干散射，也有衍射现象。衍射规律与X射线相同。也满足布拉格方程。 2dsinθ = λ 当λ已知时，测出一系列掠射角就可以求出晶面间距，进而确定晶体结构。 （3）衍衬效应 在同一入射束照射下，由于样品相邻区域位向或结构的不同，以致衍射束强度不同而造成图亮度差别（衬度），称为衍衬效应。它可显示单相合金晶粒的形貌，或多相合金中不同相的分布状况，以及晶体结构内部的结构缺陷等。 5、其他信号 其他还有俄歇电子、吸收电子等 （二）扫描电子显微镜（SEM） 1、成像基本原理 电子枪发射出来的电子束，在加速电压作用下，经过电子透镜聚焦后，在样品表面按顺序逐行进行扫描，激发样品产生各种物理信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。这些物理信号的强度随样品表面特征而变。它们分别被相应的收集器接受，经放大器按顺序、成比例地放大后，送到显像管的栅极上，用来同步地调制显像管的电子束强度，即显像管荧光屏上的亮度。扫描电子显微镜结构如图3所示。 图3 扫描电子显微镜结构示意图 2、SEM1）分辨率 分辨率是扫描电子显微镜主要性能指标。对微区成分分析而言，它是指能分析的最小区域；对成像而言，它是指能分辨两点之间的最小距离。 这两者主要取决于入射电子束直径，电子束直径愈小，分辨率愈高。 但分辨率并不直接等于电子束直径，因为入射电子束与试样相互作用会使入射电子束在试样内的有效激发范围大大超过入射束的直径。 一般理想情况下可以认为SEM 分辨率d=d0?M1? M2?M3 （2）景深 景深是指透镜对高低不平的试样各部位能同时聚焦成像的一个能力范围，即样品在深度方向变化，而像仍保持清晰的程度。 （3）放大倍数 当入射电子束