《测试技术》作业解答.docVIP

0-4 解：① ② ③ 0-6 解： 因测量仪表有引用误差，测量时因引用误差引起的：测量误差＝引用误差×仪表量程。仪表量程越大，因仪表引用误差引起的测量误差就越大。 使用电表时应尽可能在电表量程的2/3以上使用，目的就是尽量采用合适（而不是过大）量程的电表来测量，以减少因引用误差引起的测量误差。 150V电压表的测量误差＝0.5％×150V＝0.75V 30V电压表的测量误差＝1.5％×30V＝0.45V 所以1.5级的30V电压表测量精度高。 0-7 解：1)测量结果的表达方式（置信概率β） 2) ＝802.44 ＝0.01427 当置信概率β＝0.95，v＝8-1＝7时，查表得到 测量结果表达为： （置信概率0.95） 2-1 解： 偏移量＝3.5MPa×9.09mm/MPa＝31.8mm 2-2 解：T1=1s,T2=2s，T3=5s； 幅值误差： 2-3 解： 稳态效应： 2-5 解：（1） 得到： （2） 振幅误差为： 相角差为： 2-10 解： （2） 2-7 解：, 2-8 解： 均值 绝对均值 均方根值 3-3 解： （1）金属电阻丝应变片在外力作用下产生变形，引起电阻丝长度和截面积的变化，从而引起应变片的电阻产生变化；而半导体应变片在外力的作用下，其压阻系数产生变化，引起半导体导电率的变化，从而引起应变片的电阻产生变化。 （2）金属电阻丝应变片的S较为稳定、非线性误差小，但S较低（S＝1~2）、机械滞后大；半导体应变片S高、机械滞后小、体积小，但非线性误差大、温度稳定性差、灵敏度离散度大。 （3）金属应变片宜于静态或缓变的较大变形或力的测量；半导体应变片适宜动态、较小变形或力的测量。 3-4 解： （1） (2) (3) (4)这个变量不能从表中读出。 3-5 解：（1）,自感式传感器的灵敏度与励磁线圈的匝数、铁心与衔铁间的介质磁导率、导磁面积、气隙长度有关。 （2）要提高S，可采用的措施有：增加励磁线圈的匝数，增加导磁面积，减小气隙长度。 （3）会产生的后果：增加传感器的尺寸和体积，减小传感器的测量范围。 （4）既不产生不良后果，又能提高灵敏度的措施：采用螺管式结构自感式传感器、采用差动式结构的自感式传感器。 3-7 解：1)（有疑问） (2)格数＝ 3-8 解：（1）） 要使输出与输入保持较好的线性关系，应：，即： （R0越大，R1越小，l越长，x越小） 3-11 解：（1） （2） 3-12 解：（1）光电传感器按光通量对光电元件不同的作用方式，可分成：直射式、透射式、反射式和遮蔽式光电传感器。 （2）直射式光电传感器：被测物体作为光源 透射式光电传感器：恒光源辐射光穿过被测物后到达光电元件上 反射式光电传感器：恒光源辐射光照到被测物后由被测物反射到光电元件上 遮蔽式光电传感器：恒光源辐射光遇到被测物，部分被遮蔽后到达光电元件上。 （3）光电传感器可进行：位移、转速、表面粗糙度、温度、有无工件的检测、工件计数等。 补充：1)光电效应的种类？ 2)光电元件的类型及特点？ 3-13 解：（1）半导体霍尔元件的两端通一电流，并置于磁场中，霍尔元件的另两端就会出现一定的电位差（霍尔电势）。 （2）运动电荷受到磁场中的磁场力（洛仑测力）作用，电子向一边偏移并产生积累形成电场。 （3）用于微小位移和可转化成微小位移物理量的（压力、压差、加速度、转速、零件计数、振动参数等）测量。 3-16 解：1)光纤传感器测压力时，光纤在压力的作用下产生微小的弯曲变形，导致光纤导光性能变化，部分光波折射入包层而被损耗掉，损耗的光强随光纤弯曲程度而异。 光纤传感器测位移时，在不同位移的作用下，发射光纤和接收光纤的相对位置发生变化，接收光纤接收到的光强度随两光纤的径向相对位置不同（入射角不同）而改变。 2)光纤传感器测压力时，一般采用功能型光纤传感器；光纤传感器测位移时一般采用传光型光纤传感器。 补充：常用热电偶的类型与使用特点（灵敏度高低、测温范围、产生热电动势大小） 3-17 解：见课件 4-1 解：（１）应变时 单臂