基于折叠集合的确定模式bist的低功耗设计-计算机系统应用.pdfVIP

1002 年 第 3 期 计 算 机 系 统 应 用 基于折叠集合的确定模式 !#$ 的低功耗设计! %’ (’)* +),-./ 0 1/.-*2 3 24) !#$ !5,)4 / 674-/. #)8 谈恩民! 梁晓琳! 刘建军! （桂林电子科技大学 电子工程学院 广西桂林 #$%%# ） ! ! 谈恩民! （上海交通大学 电子信息与电气工程学院 上海 %%%’% ） !! # =(0Rkv2 3 ()*+ /’wYOPEr 4DKJg hZ [PF V/gf= 4ab ,-*. yZ [PF VRR 45*79v/LGZ [\ ]Jm wk v /N62 3h 44D h /N6 ^8; m: #_ CYthKJkvN6 ^8gf == /* + 4v‘3 }C! J /N6 ^8 4v sa S ? i: } C4{b CcK (- saS?DfGi !RRKh/N62 3; /G [upq Y* +6F_ co Eri‘L3ab /FGmc? 4vcK c (oEr /3T^ Y }~! #’wYOP Z [t Z [^8 d#P_ C kvN6 $! 引言 移到- （4 2 $ ，3 ）保持前 4 位不变，翻转所有余下位。 ! ! 在 /-+ 的方法中，内建自测试（()*+ ）由于具有许 翻转仅仅由位置5 和转移距离4 决定。状态转移函数 多优点已经成为超大规模集成电路测试中的一个最 ［ ，’ ］ 如下 ： 具前景的解决方法。伪随机模式测试是当前 ()*+ 中 最受欢迎的测试方法，因为它不需要占用很大的存 ! $ ! % （/ *! * ，0 * * ） 储面积开销，只需要有限个数的输入向量便可达到 ,.（! ， ）# { ’()’- - - - - - - - 很高的故障覆盖率。但是对于电路中剩余的难测故 障所需要的测试模式的数量可能会很巨大，以致于 对于6 % ｛% ，$ ｝”是一个向量6 7 6 6 …6 …6 ，让8 5 $ 4 1 不能实用，采用确定模式测试集来覆盖被测电路中 8 5 6 表示对变量6 逻辑非 5 是偶数的话，那 6 7 6 ，否 剩余的难测故障就成为被关注的研究方向。折叠 4 4 4 4 8 集［$ ］就是一种简单有效的确定模式测试集，基于折叠 则8 5 6 7 6 ，我们用-（9，6 ）表示对6 的9 次折叠计算- 4 4 集的确定模式()*+ 提供了一种非常实用的()*+ 解决