第二章 XRF-fuxn.ppt

5.1 影响定量分析的因素 但是实际上存在影响荧光X射线强度的因素，这些因素与电子探针情况基本相同，不过这里不叫ZAF效应，而叫基体吸收效应和增强效应。 5.1 影响定量分析的因素 (1)基体吸收效应 试样的吸收系数与其成分有关，当试样的化学成分变化时，其吸系数也随之改变。所以，元素A的荧光X射线强度不但与元素A的含量有关，还与试样其他元素的种类和含量有关。 5.1 影响定量分析的因素 这里说的吸收包括两部分：一次X射线进入试样时所受的吸收和荧光X射线从试样射出时所受的吸收。吸收的多少与X射线的波长和试样中各元素含量、吸收系数及其吸收限有关。 5.1 影响定量分析的因素 总之，所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。 5.1 影响定量分析的因素 (2)增强效应 如果一次X射线激发试样内的B元素，产生荧光X射线，其波长为λB 。若λB 小于A元素的吸收限λK ，则A元素的K系辐射不但有一次 X射线激发的，还有B元素的荧光X射线激发的，结果使A元素的荧光X射线的强度增加了，这就是增强效应。 5.2 定量分析法 定量分析的方法很多，其原理都是根据荧光X射线的强度确定元素含量。但是在处理基体吸收和增强效应的思路和方法不同，提出许多不同的方法。可以将这些方法分为两大类：实验校正法和数学校正法。 5.2 定量分析法 (1)实验校正法 此法又称校正曲线法，是利用实验曲线(校正曲线)进行元素的定量测定。它又可分外标法、内标法、散射线标准法、增量法等多种方法。 5.2 定量分析法 外标法是以试样中分析元素的分析谱线强度与外部标样中已知含量的这一元素的同一谱线相比较，来确定试样中分析元素的含量。 外部标样可以人工制作，也可以是经过精确测定其成分含量的其他样品。 5.2 定量分析法 内标法即是试样中加入一种已知量的标准元素，其谱线的波长与分析元素的分析谱线相近，通过测量它们的强度比确定分析元素的含量。也是利用校正曲线进行测量。 5.2 定量分析法 由于标准元素必须加入试样内，因而在应用上有一定的局限性。它只适用于粉末状和液体样品，不适用于固体块状样品。有时也不易找到合适的内标元素，所以其应用不如外标法广泛。 5.2 定量分析法 增量法：该法从分析样品中制备多个供测定用的试样，除留下一个作基准外，其余都均匀地混入已知量的被测元素（或与被测定物质化学组成类似的物质）作为供测定用的试样。改变加入量，制备多个试样，以无加入的试样为基准，从分析元素的X射线强度的增加来定量分析被测元素。此法不使用高浓度样品，一般标样制备困难，被测样品少的情况下采用此法。 5.2 定量分析法 (2)数学校正法 它是用数学计算法校正吸收－增强效应，求出试样中某一元素的含量。实验校正法适用于分析元素含量变化范围窄、混和物中其他元素含量也变化不大的情况。 5.2 定量分析法 当试样中的元素很多，含量变化大时，由于基体吸收和增强效应变化较大，分析元素的谱线强度不仅与该元素的含量有关，还会因基体中的其他元素含量的变化而变化。 5.2 定量分析法 所以，不能用一条校正曲线确定分析元素的含量，而需要一系列这样的校正曲线，这是很繁锁的。在这种情况下利用数学校正法较合适。 数学校正法也包括许多具体的方法，主要有经验系数法和基本参数法。 便携X射线荧光分析仪 x射线荧光分析仪.flv x射线荧光分析仪1.flv 5.3 样品的制备 块状样品：如果块状物质是均匀的，又有适当的标样，则直接进行分析即可。这类样品的制备，只需在大块物料上切割下适当大小的一片，然后抛光其一个表面即可进行测定。 5.3 样品的制备 块状试样分析的主要缺点： 某些合金和矿石以及矿渣等样品内部元素分布很不均匀，往往造成严重的分析误差； 块状试样的标准样品制备困难，用人工合成的方法很难仿制； 很多定量分析方法的应用受到限制，如稀释法、内标法和增量法。 5.3 样品的制备 粉末样品制样的要求： 粉碎：一般需要粉碎至250目，分析波长2.5×10-10m时，一般要求粒度达到325目或400目以下； 干燥：一般样品需要105℃以下烘干1h以上，以驱走吸收的水汽； 加料：在制备试样或