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- 2017-12-28 发布于北京
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微电子器件2-1.ppt
* PN 结是构成各种半导体器件的基本单元。 第 2 章 PN 结 分析方法:将 PN 结分为 4 个区,在每个区中分别对半导体器件基本方程进行简化和求解。 P 区 NA N 区 ND 突变结:P 区与 N 区的杂质浓度都是均匀的,杂质浓度在冶金结面(x = 0)处发生突变。当一侧的浓度远大于另一侧时,称为 单边突变结,分别记为 PN+ 单边突变结和 P+N 单边突变结。 线性缓变结:冶金结面两侧的杂质浓度随距离作线性变化,杂质浓度梯度 a 为常数。 平衡状态:PN 结内部的温度均匀稳定,不存在外加电压、光照、磁场、辐射等外作用。 2.1 PN 结的平衡状态 本节将介绍 PN 结 空间电荷区的形成,PN 结的 内建电场、内建电势,及平衡时的 PN 结 空间电荷区宽度。 2.1.1 空间电荷区的形成 平衡少子 P 区: N 区: 利用 n0 p0 = ni2 的关系,可得 平衡多子 P 区: N 区: 可见, 空穴扩散:P 区 N 区 电子扩散:P 区 N 区 扩散电流方向为,P 区 N 区 P 区 N 区 NA- ND+ pp0 , np0 nn0 , pn0
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