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基于MCU的74系列芯片检测仪 　　摘要：本系统以AT89C51为核心，由键盘、LCD1602显示、电源控制模块组成，根据数字系统测试与可测性的原理以及集成芯片的真值表推导出测试程序，能完成对TTL74/54系列和CMOS4000,4500系列数字集成芯片的功能测试。 　　关键词：单片机 真值表 集成芯片 测试仪 　　 　　1引言 　　在高校的教学实验环节中，需要大量使用TTL74,54系列和CMOS4000,4500系列数字集成芯片。目前，市场上存在一种可以对TTL，CMOS数字集成芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是其价格较贵，难满足学生人手一台；另外，该测试仪器是面向工程单位的，不能测试实验室中的很多数字芯片。因此，从节约经费、提高利用率的角度出发，本文采用AT89C51单片机设计了集成芯片测试系统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL，CMOS系列芯片的功能检测。同时通过RS232串行口与PC机相连，可以在PC机上直接对测试系统进行操作。 　　2 设计方案以及方案比较 　　2.1 设计方案 　　方案1：以AT89C52单片机，并行扩展接口8155，显示驱动，键盘输入等测试。由图1可知，该测试仪的硬件电路由AT89C52单片机，并行扩展接口8155，显示驱动，键盘输入，看门狗和复位电路以及串行接口电路组成。 　　方案2：以单片机为核心，配合控制程序和外围电路测试。如图2所示，该IC测试系统是以单片机为核心，配合控制程序和外围扩展电路来全面模拟被测芯片的综合功能，通过程序生成所需的激励信号送给待测芯片，并将待测芯片的输出响应与单片机程序中的标准结果进行比较，从而判断被测芯片功能的好坏。 　　2.3 方案比较 　　两种方案各有优点和缺点：方案1、该测试仪设计简单，占用硬件资源少，有良好的人机对话功能，便于携带、操作、能够满足课程教学实验的要求，但是操作起来较为麻烦，且对电路要求精确度高。方案2、设计硬件电路简单、成本低廉、性能稳定,具有良好的人机交互界面,在高校学生以及实验室等场合较为实用。相比较来说方案2较为合适。 　　3 硬件电路设计 　　本系统以单片机为核心，有键盘、LCD602显示器、电源控制等模块组成。根据系统硬件框图设计出单片机控制系统原理图。根据AT89C51中的P0口与P1口的特点，本设计采用AT89C51的P0口和P1口作为测试芯片的接口。其中，P3 口中的P3.3和P3.0用于控制13和7管脚电源的GND与信号线的转换，P3口中的P3.1和P3.6用于控制14和16管脚电源VCC与信号线的转换。 　　1）单片机与测试芯片之间需要加510欧的电阻。首先，串接电阻的目的是对AT89C51起限流保护的作用。假设P1.0输出高电平，此时测试芯片又为非门，将引起灌电流现象，只是P1.0口线上的电流非常大，对AT89C51有害；其次，可以保证逻辑电平的正确，在连接线上串接几百欧的电阻而不接几千欧的电阻的原因在于：假设让P1.0为逻辑低电平，这样基极将是高电平，又有P1口上的上拉电阻为3KΩ左右，如果连接线上的电阻也取3KΩ，将使P1.0输出逻辑高电平，此时逻辑电平是错误的；如果连接的电阻为510Ω左右，P1.0口仍然能够正确地输出逻辑低电平，这样就保证了逻辑电平的正确性。 　　2）测试芯片从14到16管脚时电源管脚位置改变，所以存在供电管脚转换的问题。本设计中P1.0，P0.4，P1.3，P0.7管脚是被转换的对象。用P3.0和P3.3管脚电平的高低来控制P1.3和P0.7管脚接VCC与否。这个电路时利用晶体三极管来实现的。当P3.0和P3.6置高电平时，P1.0接GND，P0.7接VCC，此时能测14管脚的芯片；当只有P3.6置高电平时，P0.7接VCC，由于芯片插座的第8管脚始终接GND，此时测试16管脚的芯片。所以，只要在每个芯片测试子程序中设置相应管脚为供电管脚即可解决芯片供电问题。 　　4 程序设计 　　系统软件由主程序和若干子程序构成，其中子程序有显示子程序、键盘扫描子程序、测试子程序。系统开机后，首先执行主程序，完成系统初始化工作，然后调用显示子程序，在LCD1602显示器上显示“test”,告诉操作者系统已经准备好。由于自动检测是采用穷举法进行型号匹配，这样花费的扫描时间被手动时间长。 　　5 集成芯片测试 　　按照芯片测试插座旁边的指向，插入待测数字芯片，根据LCD1602显示的提示内容进行按键操作。通过键盘和LCD1602配合使用来循环选择所需测试的芯片型号，再按一下“TEST”键，单片机将调用相应的测试子程序，并将结果送到LCD1602显示器上显示（“GOOD”或者“Bad”）。 　　6 扩展应用 　　该芯片测试仪不仅能偶检测TTL，CMOS系列