x射线衍射分析5节.pptVIP

Page * Be窗口 光阴极 倍增极 阳极 闪烁晶体 Page * 闪烁计数器的结构： 它主要由铊激活的碘化钠闪烁晶体和光电倍增管两部分组成。碘化钠晶体的作用是使入射到其中的每一个X射线光子转换成突发的可见光子群，光电倍增管的作用是把这些光子变成电子并倍增成一个电脉冲。 显然，闪烁计数器要密封、不透气、不透光，漏光会增加背底，漏气则使NaI晶体潮解。 X射线入射窗口用0.2mm厚的铍片密封，铍的作用是密封蔽光，但它对X射线是透明的。 Page * 闪烁计数器内的光电过程 活性的NaI(Tl)单晶体固溶体有约1%的铊，铊是这个晶体的发光中心，它们由受激态回复到基态时发射出紫色的可见光。 入射到NaI(Tl)晶体中的X射线光子被碘吸收后： 1.发生L电离，产生L壳层空穴和具有一定动能的L光电子；L空穴被M层电子填充，或发射L辐射，或发射LMM俄歇电子；更外层电子跃迁到M空穴，产生M线系或MNN俄歇电子； Page * 2.光电子、俄歇电子、碘的特征辐射都会最后将Tl激发到受激态，在它回复到基态时发射平均波长为420nm的紫色可见光，该光射到光电倍增管的光敏阴极上，产生N个光电子，这N个光电子投射到第一级倍增电极上，每一个都打出?（一般为2-4）个光电子，若倍增电极数为n个，则一个入射X射线光子产生的电脉冲大小为P=KN?n，K约为0.9左右。 由于闪烁晶体发出的可见光子数与X射线光子的能量成正比，这些电流脉冲大小也正比于X射线光子的能量，这种正比关系是闪烁计数器（SC）进行X射线能量检测的基础。 Page * 测量电路 辐射测量电路是保证辐射探测器能有最佳状态的输出电(脉冲)信号，并且能够直观读取或记录数值的电子电路。 脉冲高度分析器（PHA）： 由计数器输出的信号先经前置放大10倍左右，输出信号约20~200mV,然后将此信号送至线性脉冲放大器放大到5~100V，由放大器输出的齿形脉冲经脉冲整形器后变成矩形脉冲，矩形脉冲被输送到脉冲甄别器进行脉冲的选择 。 利用PHA可去除连续谱造成的背底，提高峰背比，去除高次谐波的谱线干扰，计数管和电子电路的噪声等，故PHA在X射线分析上有着广泛的应用。 Page * 计数测量方法与测量参数选择 多晶衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫描两种。 连续扫描法：将计数器与计数率仪相连接，在选定的2?角范围内。计数器以一定的扫描速度与样品(台)联动扫描测量各衍射角相应的衍射强度，结果获得I－2?曲线。 连续扫描方式扫描速度快、工作效率高，一般用于对样品的全扫描测量(如物相定性分析时)。 Page * 步进扫描法：将计数器与定标器相连接，计数器首先固定在起始2?角位置，按设定时间定时计数(或定数计时)获得平均计数速率(即为该2?处衍射强度)；然后将计数器以一定的步进宽度(角度间隔)和步进时间(行进一个步进宽度所用时间)转动，每转动一个角度间隔重复一次上述测量，结果获得两两相隔一个步长的各2?角对应的衍射强度。 步进扫描测量精度高并受步进宽度与步进时间的影响，适于做各种定性，定量分析工作。 Page * 测量参数包括： 电压、电流、狭缝宽度、扫描速度、时间常数等。（举例） Page * 石英的衍射仪计数器记录图 *右上角为石英的德拜图，衍射峰上方为（hkl）值 Page * GADDS Powder Pattern for LaB6 Page * 第三节 单晶衍射法简介 单晶体X射线衍射分析的基本方法为劳埃（Laue）法与回转晶体法，四圆衍射法(面探法) 。 劳埃法以光源发出的复合光即连续X射线照射置于样品台上不动的单晶体样品，用平板底片记录产生的衍射线，底片置于样品前方者称为透射劳埃法，底片处于光源与样品之间者称为背射劳埃法。 劳埃法照相装置称劳埃相机。 回转晶体法以光源发出的单色光照射转动的单晶体样品，用以样品转动轴为轴线的圆柱形底片记录产生的衍射线。 Page * 劳埃法 实验条件：连续X射线。 增加一个变量, 因Laue方程中?, ?, ?并非完全独立, 存在F(?,?,?) = 0. 例如在直角坐标系中. cos2? + cos2? + cos2? = 1. 增加变量的方式为晶体旋转或改变波长λ。 Page * 回转单晶法 实验条件：特征X射线 设使晶体绕 c 轴转动, x射线从垂直于 c 轴的方向入射, 则衍射方向应满足劳埃方程 c(cos?l －cos?0) ＝l? 因 ?0＝90o, 故上式简化为 c cos?l ＝l? 即所有衍射线都应分布在以 c 为轴的一系列圆锥上, 由于晶体具有空间点阵结构, 故衍射线除了满足上式外, 还必须满足空间劳埃方程另外的两个方程. 所以衍射图不是由连续的线组成, 而是由分布在 l=0, ?1,