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第六章_常见光波导材料与结构
集成光电子器件的材料;光电子材料包括:;表2 主要化合物半导体及其用途;(5)显示材料 发光二级管(LED)如表 3;表4 光纤发展阶段及所需材料;光纤材料:;(7)记录材料;(8)敏感材料;集成光电子材料;波导折射率与模式;波导厚度与模式;不同材料矩形单模波导的宽度;如希望对光纤耦合损耗小:不同材料的光波导结构;平面光波导的类型;脊形光波导;渐变折射率波导;集成光器件的分类;有源器件材料的应用场合;不同材料吸收系数与波长的关系;集成光电子材料;集成光电子学中的主要制备技术;;横截面;波导制作工艺;集成光电子器件制作条件; 经验告诉我们,微粒的大小要小于器件上最小特征图形尺寸的1/10。(就是说直径为0.03微米的微粒将会损坏0.3微米线宽大小的特征图形。)否则会造成器件功能的致命伤害。;1、空气净化;三道防线:
环境净化(clean room)
材料清洗(wafer cleaning)
吸杂(gettering);;光电所;净化级别:每立方英尺空气中含有尺度大于0.5mm的粒子总数不超过X个。;高效过滤;;;;人员产生的污染
工作区人员也是最大的污染源之一。即使一个经过风淋的洁净室操作员,当他坐着时,每分钟也可释放10万到100万个颗粒,当人员移动时,这个数字还会大幅增加。这些颗粒都是来自脱落的头发和坏死的皮肤。其他的颗粒源还有象化妆品、染发剂和暴露的衣服等。下表列出了从不同操作人员的动
作中产生的污染物的
水平。;颗粒粘附
所有可以落在硅片表面的都称作颗粒。;工艺用水
在微纳米器件生产的整个过程中,要经过多次的化学刻蚀与清洗,每步刻蚀与清洗后都要经过清水冲洗。由于半导体器件非常容易受到污染,所以所有工艺用水必须经过处理,达到非常严格洁净度的要求。
普通城市用的水中包含大量洁净室不能接受的污染物,主要有:
溶解的矿物 颗粒 菌
溶解氧 二氧化碳 有机物
普通水中的矿物来自盐分,盐分在水中分解为离子。例如食盐会分解为钠离子和氯离子。每个离子都是污染物。;通常采用反渗透和离子交换系统去除水中的离子。去除离子后的水通常称为去离子水。去离子水在25℃时的电阻是18 000 000Ω·cm???也就是一般称为18MΩ。图5.19显示了当水中含有大量不同的溶解物质时的电阻值。
在VLSI制造中,
工艺水的目标是
18MΩ。
水中的细菌是通
过紫外线去除。;;集成光电子器件标准工艺;1.掩膜制作(相当于产生一个胶卷底片);1.掩膜:图形生成;1.掩膜:电子束直写;掩模版制作过程;;2.薄膜沉积:制作平面波导;1)化学气相淀积 — Chemical Vapor Deposition (CVD)
一种或数种物质的气体,以某种方式激活后,在衬底表面发生化学反应,并淀积出所需固体薄膜的生长技术。
例如:APCVD, LPCVD, PECVD, HDPCVD
2)物理气相淀积 — Physical Vapor Deposition (PVD)
利用某种物理过程实现物质的转移,即将原子或分子转移到衬底(硅)表面上,并淀积成薄膜的技术。
例如:蒸发 evaporation,溅射sputtering;物理气相淀积 (PVD)
蒸发(Evaporation)
溅射(Sputtering);真空蒸发:在真空中,把蒸发料(金属)加热,使其原子或分子获得足够的能量,克服表面的束缚而蒸发到真空中成为蒸气,蒸气分子或原子飞行途中遇到基片,就淀积在基片上,形成薄膜 ;溅射Sputtering - 溅射淀积Sputter deposition ;射频溅射 — 也可溅射介质 如靶是绝缘材料,不能采用直流溅射,因为绝缘靶上会有正电荷积累。此时可以使用交流电源。;蒸发工艺中的一些问题:
对某些元素淀积速率很慢
合金和化合物很难采用
台阶覆盖差
目前大生产很少采用;化学气相沉积Chemical Vapor Deposition (CVD);化学气相淀积(CVD);多晶硅淀积方法
LPCVD,主要用硅烷法,即在600-650 ℃温度下,由硅烷热分解而制成,总体化学反应(overall reaction)方程是:SiH4→Si(多晶)+2H2 ;氧化硅的淀积方法;氮化硅的淀积方法;等离子增强化学气相淀积(PECVD);等离子体:
物质存在的第四态
高密度导电粒子构成的气体
极板区域有辉光;3.光刻:将底片(掩膜)的图形转移到刚沉积的波导表面上;光刻的要求;三种硅片曝光模式及系统;光刻:正胶与负胶;步进投影式光刻机原理图;;两个爱里斑之间的分辨率(瑞利判据):;光刻步骤简述;248 nm;EUV光刻;;
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