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现代仪器分析技术在建筑陶瓷工业中应用 　　摘要：近年来，随着现代仪器分析技术的发展，越来越多的新技术、新方法被应用到建筑陶瓷工业中，推动了建筑陶瓷工业的发展。本文综述了XRF、XRD、SEM、DTA、TG以及FT-IR等现代仪器分析方法在陶瓷原料成份、矿物组成、微观结构、工艺性能以及产品质量控制和缺陷分析等方面的实际应用。 　　关键词：仪器分析；建筑陶瓷；应用 　　1 前言 　　在建筑陶瓷工业中，对原料的选择、工艺参数的调整、产品质量的控制，以及质量缺陷的分析等都离不开各种分析技术的应用。近年来，随着现代仪器分析技术的发展，越来越多的新技术、新方法被应用到建筑陶瓷工业中，推动了建筑陶瓷工业的发展。本文主要综述了XRF、XRD、DTA、TG、SEM、FT-IR等现代仪器分析方法在建筑陶瓷工业中的应用。 　　2 XRF在陶瓷原料成份分析中的应用 　　化学组成是陶瓷原料最基本的性能指标，是原料配方的基础，在生产上有着重要的指导意义。传统的陶瓷原料大多采用化学分析法，但是由于陶瓷原料的组成复杂，特别是对釉料进行化学分析时，元素间的干扰、分离等问题较难解决，而且采用化学分析方法耗时、费力。XRF（X射线荧光光谱法）利用发射X射线激发被测样品，使得样品中的元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特征：由探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量：然后通过分析软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中相对应元素的种类及含量。XRF分析具有试样制备简单、分析速度快、精密度高、重现性好、成本低、一次可以给出多种元素信息等优点。但是，采用XRF进行成份分析时，其结果会受仪器的测量条件、标准样品的选取、样品的制备方法及熔融条件、基体效应校正模型等方面的影响。 　　目前，与陶瓷原料分析相关的XRF国家标准有两个，GB/T 21114和GB/T 14506.28。XRF作为一种实时、在线分析，能够准确及时地给出检测结果，因此，可以在陶瓷原料成份分析中发挥重要作用。如Paola Ligas利用X射线荧光法分析了意大利西北部高岭土的化学成份。李艳萍等利用X射线荧光光谱法分析了不同地区陶瓷原料的成份，并对其???量进行了评价。常建平等人分别研究了样品的粒度、制备方法、仪器测量条件等参数对测试结果的影响，并对陶瓷的釉用原料进行了分析，以熔融法制样，使用经验系数校正基体效应，测定了陶瓷材料中的SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、K2O、Na2O、TiO2成份，取得了较好的结果。张志峰等运用熔铸玻璃片法制样，用XRF分析烧失量严重（15%-25%）弥散型天然高岭土组分，以及利用仪器所配（X40）软件包汇编程序，直接测定烧失量，实现了天然高岭土组分的XRF光谱快速、准确和自动化分析。张永青在使用XRF测定陶瓷原料中的常规元素时，选用LP数学模型进行基体效应校正的方法。实践证明，该法与化学法测试结果具有良好的一致性，分析的准确度与精确度都能满足生产要求，具有简便、快速、准确等优点。M.A.Marina等通过XRF和电感耦合等离子体原子发射光谱法，测定陶瓷原料中的磷元素，结果发现，XRF对测试条件有较高的灵敏度，且制样简单。S.Sanchez Ramos等㈣研究了用XRF测定陶瓷原料中的B2O3，通过熔铸玻璃片法制样，建立一系列校准曲线，并优化仪器参数，得出XRF可测定含量较低或较高的B2O3，且与其他方法对比，结果较精确。应晓浒等采用XRF熔铸玻璃片法分析了钠长石和钾长石中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、Fe2O3、Rb、Sr、Y、Zr、Ba共计14个成份的含量。所得结果与化学分析结果相符。李建英等采用熔铸玻璃片法制样测定了釉料中Fe2O3、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、MnO、NiO、CuO、ZnO、ZrO2和PbO等组分含量，使用理论α系数和经验系数法校正基体效应，分析结果与化学法基本相符，除Na2O、MgO、CaO外，其余组分12次测定的相对标准偏差均小于10%。 　　3 XRD在陶瓷工业中的应用 　　XRD（X射线衍射）是测量陶瓷原料矿物组成的方法，矿物组成也是陶瓷原料的一个重要指标，决定了产品烧成过程中的一系列物理化学变化。XRD主要分析陶瓷-原料的矿物组成，晶体的发育状况、完整程度等。根据矿物组成判断原料的纯度，确定杂质的种类，及加工工艺，调整配方，获得优质的成品。卢建海等人研究了透辉石-叶腊石-粘土系统陶瓷中，透辉石、叶腊石、石英和粘土的不同含量对烧成后陶瓷晶相组成的影响，并采用XRD分析了陶瓷的品相组成。朱振峰等人采用XRD对陕西宝鸡透辉石原料矿物进行了研究，发现透辉石岩的主要矿物组成为：透辉石85%、透闪石