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LKJ2000型监控装置散热系统设计与实现 　　摘 要：LKJ2000型列车运行监控记录装置已有“安全期”过渡到“故障频发期”，电容爆浆、记录芯片起泡变型、监控模式混乱、彩屏与监控装置通讯等故障频繁发生。究其原因，主要是LKJ2000型列车运行监控装置设计上存在缺陷，采用自然风冷，没有散热系统，影响该装置作用的正常发挥，对运输安全生产造成较大干扰。因此，如何降低监控装置内部温度，使监控过热故障率下降，提高机车的运行性能，成为铁路运行急需解决的问题。 　　关键词：LKJ2000监控装置 散热系统 元器件 温度 　　中图分类号：U26 文献标识码：A 文章编号：1672-3791（2015）06（b）-0065-03 　　随着列车运行监控技术的升级换代，2002年路局开始全面推广使用LKJ2000型监控装置，但是运用情况并不尽如人意，电容爆浆、记录芯片起泡变型、监控模式混乱、彩屏与监控装置通讯等故障频繁发生。究其原因，主要为LKJ2000型列车运行监控装置设计上存在缺陷，采用自然风冷，没有散热系统，在气候炎热的季节，装置内部温度达90℃以上。电子元器件过热损坏。影响该装置作用的正常发挥，每年此类故障率就占了监控装置故障落修率的80%以上。对运输安全生产造成较大干扰。为此，昆明机务段组成课题组，设计研制出一套散热装置样机，使LKJ2000型监控装置过热故障率下降80%以上。散热装置性能可靠，安装方便，不影响监控装置正常工况。 　　1 主要元器件正常工况环境温度范围分析 　　1.1 DS1250Y芯片 　　DS1250Y芯片内部每个NV SRAM均自带锂电池及控制电路。在所有的环境因素中，温度对电池的充放电性能影响最大，在电极/电解液界面上的电化学反应与环境温度有密切的关系，电极/电解液界面被视为电池的心脏，如果温度下降，电极的反应率也下降，假设电池电压保持恒定，放电电流降低，电池的功率输出也会下降；如果温度上升则相反，即电池输出功率会上升。温度也影响电解液的传送速度，温度上升则加快，温度下降，传送减慢。 　　对于DS1250Y芯片来说温度太高，即：≥45℃，会破坏电池内的化学平衡，导致副反应，释放出腐蚀性物质，同时，高温下充电电池材料的性能会退化，电池的循环寿命也将大大缩短。 　　经测试，监控主机箱的内部环境温度一般高达85℃以上。在这样环境中长期工作最终导致芯片内部锂电池因过热损坏导致芯片外部起泡变形，从而严重影响DS1250Y芯片的电气性能。使CPU读写DS1250超时或失败致使监控记录文件出现错误。 　　可见监控记录板上DS1250Y芯片工作的环境温度应45℃，原芯片内部控制标称电路所选用的-40℃到+85℃工业级温度范围有偏差。 　　1.2 27C4001芯片 　　LKJ2000型监控装置选用存储监控模式及数据的EPROM芯片即27C4001芯片。由于监控装置内部的工作温度较高，即便没有外加电场，“热载流子”也会通过“电子迁移”的方式缓慢的注入NVM器件。改变EPROM中的数据，导致监控模式混乱。 　　1.3 CPU 　　1989年MOTOROLA公司推出MC68300系列32位单片机，LKJ2000型监控装置选用的就是其代表性产品MC68332。 　　据超微公司（AMD）统计，全世界因中央处理器引起的各种故障中，长期温度过高所致CPU损坏的占92%。然而，并不是热直接伤害CPU，而是热所导致的“电子迁移”效应在缓慢的损坏CPU内部的芯片结构，是高温导致的“电子迁移”效应而引发的结果。为了防止“电子迁移”效应的发生，必须把CPU的表面温度控制在摄氏55℃以下，这样CPU的内部温度维持在80℃以下，“电子迁移”现象才不会轻易的发生。此外“电子迁移”效应也并非立刻就会损坏CPU（芯片），它对CPU（芯片）的损坏是一个缓慢的过程，但肯定会缩短CPU的使用寿命。 　　1.4 电解电容 　　一般导致电解电容爆浆漏液的原因分为两种：①电容过压；②电容过热。LKJ2000型监控装置电源插件上装有3个滤波电解电容，经过对故障插件的分析研究并不是3个电解电容同时爆浆，有的插件仅有一个电容爆浆。如果是过压原因造成电容爆浆，应该是3个电解电容全部爆浆，绝对不会有一个幸免，所以电源插件上的电解电容爆浆的原因只可能是过热。 　　2 监控装置散热系统设计 　　2.1 散热方式比选 　　散热就所采用的方式来说，可以分为两种，被动散热和主动散热，在主动散热中根据采用的散热方式不同，又分为风冷散热、水冷散热、液冷散热、热管散热器散热、半导体致冷片散热、压缩机辅助散热和液氮散热等几种。 　　从热力学的角度看，物体的吸热、放热是相对的，只要有温度差存在，就必然出现热从高温处向低温处传递的现象，有差别的只是传导速度。热传