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控制图分析－－极差R分布分析 。 。 。 。 。 。 R UCL UCL 异常点，需要考虑过程控制因素 R 任何超出控制限的点-----非受控 控制图分析－－平均值和极差都不受控的状况 。 。 。 。 。 。 UCL UCL 异常点，需要考虑过程控制因素 R 。 。 。 。 。 。 X UCL LCL 。 。 任何超出控制限的点-----非受控 虽然在控制限内，但是点子排列有缺陷现象 链----同类型的点子接连不断的出现。链分为两种：连续链和间断链 连续点在7点呈上升或下降趋势时，这也是异常！ 可能与设备老化、润滑不足、人员疲劳有关。 连续点在7点在中心线的一侧时，这是异常！ 这是典型小概率事件 ⑴连续链： 出现以下情况时，需要注意： ⑵间断链： UCL CL LCL 11点中有10点在CL的同侧。 11点中有10点在中心线的同一侧出现； 14点中有12点在中心线的同一侧出现； 17点中有14点在中心线的同一侧出现； 20点中有16点在中心线的同一侧出现。 这些都属于小概率事件， 属预防范畴需要现场解决！ 虽然在控制限内，但是控制点在控制界限内出现跳跃分布状况 UCL CL LCL A区 A区 B区 B区 C区 C区 μ+3σ μ-3σ μ+2σ μ+1σ μ-2σ μ-1σ 3点中至少有2点落在A区上；连续5点中至少有4点落在A区和B区上； 明显多于2/3的点（如90%）落在C区上；明显少于2/3的点（如40%）C区上。 虽然在控制限内，但是控制点在控制界限内的呈现周期分布状况 一边调整刀具或刃具，一边生产时往往会出现。 1日 2日 3日 4日 1周 2周 3周 一个工作日内，自动设备专用车床往往会出现。 一周内的不良率、成品率等指标有时会这样。 第三章:过程能力分析 过程能力分析 表述过程指数分为过程能力和过程性能 过程能力：只有普通原因作用的状况下，过程的分布形状。一把分为Cp与Cpk。 Cp: 过程能力（B） B= 6σ （6倍标准差） 因为在±3σ分布范围内的概率分布为99.73%。表示该过程产品质量波动的范围。 过程能力指数 Cp （ Capability of Process ） 过程能力指数-- Cp B T = = T s 6 T--表示产品公差 B（ 6σ）---表示过程能力 规格管理的危险性 Not just to meet customer or contractual requirements!!!—被BOSS训斥的痛苦!!! 控制线管理的益处 Spec LSL USL Very Centered 变异是我们的敌人 LCL UCL 不良品已经产生 潜在不良出现 计量型数据的过程能力和过程性能 过程固有变差(过程能力指数)—仅由于普通原因产生的过程变差,该变差可以从控制图通过R/d2来估计； 过程总变差(过程性能指数)---由于普通和特殊两种原因造成的变差,本变差可用样本标准差S来估计。 过程能力指数研究 Cp:过程能力指数，过程能力与规格最大允差的比较，反映了过程满足既定规格公差要求的能力，不受过程位置影响。仅适用于统计稳定过程，是过程在受控状态下的实际加工能力，不考虑过程的偏移，是过程固有变差（仅由于普通原因产生的变差）的?6σ范围，式中σ通常用?R-bar/d2或者s-bar/c4来估计。所以过程能力是用过程在受控状态下短期数据计算的。因此又将过程能力称为“短期过程能力”，实际中常将短期省略。这个指数只是针对双边公差而计算的，对于单边公差没有意义。 Cpk:能力指数，综合考虑了过程分布的位置和变差的能力指数。 是在过程有偏移情况下的过程能力，前提是要过程稳定且数据是正态分布，而且数据应该在?25组以上（建议最少不要低于?20组，数据组越少风险越大），只考虑过程受普通原因的影响。因为过程只受到普通原因变差影响是理想状态下的，从长期来说过程总会受到各种特殊原因的影响，所以又被称为短期过程能力，也叫潜在过程能力。 CPK通过?CPU或?CPL的最小值来计算，计算公式:CPU=(USL-X-bar)/3σ和?CPL=(X-bar-LSL)/3σ 对于双边公差，通常为Cpk ≤ Cp, 只有过程位于中心时，Cpk=Cp。 1.33 ≤ CPK≤ 1.67在此范围过程稳定 PPK：过程性能指数，因为计算不需要过程稳定（因为在计算公式中已经考虑了普通和特殊两种原因的影响），所以在 PPAP手册中要求在产品进行试生产过程不稳定时（此时过程受两种原因影响）用 PPK衡量过程能力，要求PPK=1.67 才能进入量产阶段，所以又把PPK称为初期能力指数。PPK通过 PPU或 PPL的最小值来计算，计算公式 PPU=(USL-X-bar)/3s和