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瞬变电压抑制器浪涌寿命模型探讨 　　摘 要： 瞬变电压抑制器（TVS）的浪涌寿命是TVS使用方最为关注的可靠性指标。在对TVS浪涌寿命特点及其主要影响因素分析的基础上，根据Arrehenius模型原理建立了TVS浪涌寿命与脉冲峰值电流倍数和环境温度这两个主要影响因素的关系模型，基于加速浪涌寿命试验数据确定了该模型中待定系数的取值。鉴于TVS使用条件可能与试验条件不同，采取调整系数的办法对模型进行完善，通过理论计算给出非试验波形调整系数的计算公式，通过试验数据和MIL?HDBK?217F中TVS失效率模型调整系数给出了质量调整系数和环境调整系数。试验数据表明建立的TVS浪涌寿命模型比较客观地反映了TVS的浪涌寿命与主要使用因素的关系。 　　关键词： 瞬变电压抑制器； 浪涌寿命； 模型； 调整系数 　　中图分类号： TN306?34； TN31 文献标识码： A 文章编号： 1004?373X（2014）09?0138?04 　　0 引 言 　　当今电子设备电磁兼容要求越来越高，瞬态电磁脉冲的防护，除了传统的屏蔽、滤波、接地等方法外，还常采用旁路保护器件或电路。所谓旁路保护，是对被保护对象并联一组保护器件或电路，当电路中出现因电磁脉冲耦合产生的瞬态过电压时，保护器件或电路先行击穿，吸收电磁脉冲的大部分能量并转化为其他形式，将被保护电路两端的电压控制在其能承受的范围内。目前，电子设备最常用的旁路保护器件是瞬变电压抑制器TVS（Transient Voltage Suppressor），其性能较过去常用旁路保护器件如压敏电阻等优越，其中最突出的就是在脉冲持续时间内箝位电压随电流变化微小，能经受瞬态脉冲的次数多，且多次电压箝位后性能不变。而TVS能承受的瞬态脉冲次数自然成为TVS选用时重要的可靠性指标。因此，虽然美军标MIL?HDBK?217F等可靠性预计手册给出了TVS工作失效率模型[1]，但不足以提供TVS选用时所需的可靠性指标。自从20世纪70年代，美国国家宇航局（NASA）提出浪涌寿命（Surge Life）即平均失效前脉冲数这一重要的TVS可靠性参数以来，国外著名TVS生产厂商对其生产的TVS产品浪涌寿命进行过大量的测试和研究[2]，但均未曾建立TVS浪涌寿命与各种使用因素的关系或模型，而国内对国产TVS浪涌寿命研究尚属空白。本文旨在建立包括了TVS几种常见使用因素的浪涌寿命模型。 　　1 TVS浪涌寿命试验原理 　　TVS浪涌寿命试验是选取一组同一型号同一批次的TVS样品，对每只样品采用一定时间间隔的序列脉冲对其进行冲击直至失效，从而获得每只样品失效前脉冲次数和这组样品平均失效前脉冲数。试验时两次脉冲的时间间隔以不存在前次脉冲的热积累为标准。试验时采用的脉冲为标准指数波[3]，如图1所示，可用脉冲电流从10%[IPP]（[IPP]为脉冲峰值电流）上升到90%[IPP]的时间[tr]和脉冲电流衰减到50%[IPP]的时间[tp]来定义。例如[tr]为10 μs，[tp]为1 ms的标准指数波称为10 μs/1 ms标准指数波或简称1 ms标准指数波，这是TVS额定脉冲峰值功率或电流定义、箝位电压测试和浪涌寿命试验最常用的波形。 　　 　　图1 标准指数波的波形 　　TVS浪涌寿命试验电路可采用箝位电压测试仪实现，其电路原理如图2所示[4]。图中G是标准指数脉冲发生器，当开关[S]闭合时，能产生一次标准指数脉冲。 　　 　　图2 浪涌寿命试验电路 　　2 TVS浪涌寿命模型的建立 　　2.1 模型理论分析 　　TVS浪涌寿命最主要的影响因素是试验脉冲峰值电流相对TVS额定脉冲峰值[IPP]的比值（以下简称脉冲峰值电流倍数）和试验时环境温度。试验脉冲峰值电流倍数越大，TVS浪涌寿命值越小；试验时环境温度越高TVS浪涌寿命值也越小。通常，Arrehenius模型[5]能较好地反应元器件寿命与温度应力和电应力的关系。该模型常用于建立失效寿命与应力的关系，但也可用于建立交变疲劳寿命次数与应力的关系。该模型于19世纪由Arrehenius从化学实验的经验总结出来：反应速率与激活能的指数成反比，与温度倒数的指数成线性关系，用数学公式可表示为： 　　[dMdt=Ae-E（kT）] （1） 　　式中：[M]为元器件某特征值或退化量；[dMdt]表示温度在[T]（热力学温度）时的反应速率；[A]为系数；[E]为反应的激活能，单位为eV；[k]为玻尔兹曼常数，[k=]0.861 7×10-4 eV/K。 　　如果除考虑激活能，还考虑温度以外的应力[S，]则该模型可表示为： 　　[dMdt=Ae-E（kT）?Sc] （2） 　　式中[c]为待定系数。 　　在本研究中[t]指浪涌次数[N，][S]为试验时脉冲