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模拟电路图形化测试方法与研究分析 　　摘 要： 模拟电路的传统测试方法是直流测试，也就是在模拟电路的电源端、输入端、输出端加入直流信号，对其功能和参数进行测试。但是随着模拟电路工艺的不断改进、速度的不断增快、功率的不断增大以及集成度的不断提高，对模拟电路测试精度的影响也越来越大。模拟电路的传统测试方法已经难以满足日趋复杂的测试需求，如何更加安全、精确、高效地测试模拟电路是当今测试工作研究的重大课题，本文描述了模拟电路图形化测试方法的实现、优点以及研究分析。 　　关键词： 模拟电路；图形化；测试 　　一、引言 　　图形化法测试方法是数字电路常用的方法之一，当数字电路加上电后，给输入加驱动信号，输出加比较信号，就可以测试数字电路的逻辑功能。而代表数字电路逻辑功能的输入和输出状态组合就是测试向量。在逻辑分析仪上可以看到测试向量中输入和输出的对应图形及关系，因此测试向量也称作测试图形。通过跟踪测试图形，在电路的不同状态就可以很方便的测试电路的不同参数了。现在，我们就借鉴数字电路的测试方法，也用图形化的方法来测试模拟电路。 　　二、模拟电路图形化的测试思路 　　随着测试设备的不断更新换代，测试资源的能力也在不断增强。逐步由简单的只能施加而不能测量的电压源升级为具有四象限施加和测量能力的电压/电流源，随后升级为Per---Pin DC源，再到现在带有任意波形发生器AWG和波形数字化仪WD的Per---Pin DC源。这就为模拟电路的图形化测试方法奠定了坚实的硬件基础。因为任意波形发生器可以提供模拟电路所需要的电源、输入、控制、输出波形，波形数字化仪可以对测试端参数波形进行测试捕获，从而提供数据处理和分析。 　　三、模拟电路图形化测试的硬件资源 　　ETS---88集设计与大规模生产测试于一体。ETS---88有丰富的模拟测试资源：24通道Per---Pin DC源APU---12、双通道高压源SPU---112、单通道大功率源HPU、四通道测量精密单元QMS、四通道时间测量单元QTMU、64通道CBITS控制位等。另外ETS---88还有32通道高达133MHz的低压高速数字资源DUP---16。 　　其中，Per---Pin DC源APU---12的测试模式和能力如下： 　　直流测量模式：±30V，±200mA测量范围，16位分辨率，直接测量精度为0.45mV； 　　图形发生（AWG）模式：100Ksps图形发生器，16位分辨率，256k图形深度； 　　图形捕获（ADC）模式：100Ksps图形捕获器，16位分辨率，32k图形深度； 　　双通道高压源SPU---112的测试模式和能力如下： 　　直流测量模式：±100V，±12A测量范围，16位分辨率，直接测量精度为0.6mV； 　　图形发生（AWG）模式：高速25Msps图形发生器，16位分辨率； 　　高精度400Ksps图形发生器，18位分辨率； 　　图形捕获（ADC）模式：500Ksps图形发生器，16位分辨率，4k图形深度。 　　四、图形化的测试方案设计及难点问题解决 　　4.1 TC4426MJA 图形化的测试方案设计 　　TC4426MJA是双通道反相大功率MOSFET驱动器，主要特点是：开关速度非常快，小于30ns，输出管峰值输出电流能力高达1.5A，并且输出导通电阻是7Ω，这样当电路在状态改变时，会出现电源到地的短暂导通状态，形成浪涌电流。从电源到地的导通电阻越小，浪涌电流的幅度就越大；电路的速度越快，浪涌电流的幅度也就越大。特别是在高压工作模式（=18V）时，大浪涌电流在电路封装及PCB布线的寄生电感上会产生大的浪涌电压，叠加到18V电源后，会超过电路极限从而烧毁器件。所以该类电路在不同测试设备中使用传统测试方法测试时，就经常在高压电源工作中因为过冲或者震荡，从而烧毁。为了解决这一难题，所以采取使用图形化的方法测试该类电路。 　　为了实现TC4426MJA的图形化测试，可以使用Per---Pin DC源APU---12、双通道高压源SPU---112。首先根据TC4426MJA的参数表，总结其测试条件及测试可能结果的变化趋势。其中，电源的变化趋势是0V～4.5V～18V～4.5～0V；输入INA和INB的变化趋势是0V～3V～4.5～0V～3V～18V～4.5～0V；输出电流在0mA～-10mA～0mA～10mA～0mA；输出OUTA和OUTB和INA及INB输入成反相关系。随后根据电路管脚的信号变化趋势，就可以设计出TC4426MJA图形化的测试方案。 　　4.2 TC4426MJA 图形化的测试难点及解决方法 　　TC4426MJA 图形化的测试难点一在于电源端、输入端、输出端都要根据测试方案能够施加独立的模拟波形；难