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叶面积指数的快速测定方法———植被 叶面积指数的快速测定方法 ———植被定量遥感的地面标定技术 张仁华 孙晓敏 朱治林 (中国科学院地理研究所 ,北京 100101) 摘 要 本文论述了用“底视法”测量叶面积指数的基本原理 ,并在中国科学院禹城综合试验 站遥感试验场以“冠层分析仪”对该方法进行了试验 ,提出了刺柏针叶叶面积指数的新估算方法 。 通过计算证明 ,测定值和估算值具有较好的一致性 。这种以“底视法”为基础的冠层分析仪可以用 于植被定量遥感的快速地面定标 。 关键词 底视法 冠层分析仪 植被定量遥感 前言 0 区域植被定量遥感涉及到全球变化 、农业 、林业 、气象水文等诸多学科 。这是因为 ,植物在 地球的食物链中扮演着十分重要角色 。在太阳辐射电磁波的辐照下 ,植物吸入的 CO2 和水发 生光合作用 ,形成碳水化合物 。这一极其重要的过程不仅取决于太阳辐照及供水状况 ,而且取 决于植物的叶面积和冠层结构 。因为植被冠层结构和叶面积影响植物对太阳辐照和降水的截 留比例 ,并与作物产量以及水分的蒸腾有密切关系 。特别是随着学科研究的深入 ,植物定量研 究是必经之路〔1〕。如何精确 、定量 、快速有效地获得植物叶面积指数及其冠层结构 ,已成为遥 感学科的研究热点 。 在植物定量遥感研究中 ,关键是首先要在地面以一个快速的精确定量方法去获得植物的 叶面积指数及其冠层结构 。早期在农业 、农业气象中使用的直接测量叶面积指数的方法非常 繁琐费劲 ,要大面积地测量根本就不可能 ,因此人们就力图发展一种快速 、非接触的间接测量 方法来测量叶面积指数 。非接触测量方法有两种 ,即顶视法和底视法 。顶视法即用传感器从 上向下测量 ,遥感方法就属于这种 ,其原理是利用地物的反射光谱〔2〕; 底视法是传感器从下向 上测量 ,其优点是适合于对高大森林的测试 ,无需用遥感平台 ,并可以作为植物定量遥感的地 面定标手段 。 对常规方法而言 ,针叶类植物的叶面积测量比阔叶类植物的测量更困难 。而底视法不仅 能方便地估算出阔叶类植物的叶面积指数 ,而且还可以迅速地估算出针叶类植物的叶面积指 数及其叶角 。两类植物叶面积指数的计算差别仅在于换算系数的不同 。 本文首先阐明用底视法推算叶面积指数与叶角的基本原理 ,然后提出一套估算针叶类植 物叶面积的方法 ,以便作为底视法应用的基础 。 收稿日期 :1997 年 11 月 17 日。 第 1 期张仁华等 : 叶面积指数的快速测定方法 ———植被定量遥感的地面标定技术·55 ·基本原理1当太阳光穿过植被冠层时 ,总会被植被冠层的叶子截留 ,这种截留的概率正比于太阳光穿过植被冠层的路径长度及叶子密度 ,并且也与叶子的倾角有关 。一般叶面垂直于入射光线 ,其 截留光线的概率肯定要大于不垂直于入射光线的叶子 。如果单片叶子在光线透过的植物冠层范围内是随机分布的 ,并且与整个植被冠层的厚度相比是很小的时候 第 1 期 张仁华等 : 叶面积指数的快速测定方法 ———植被定量遥感的地面标定技术 ·55 · 基本原理 1 当太阳光穿过植被冠层时 ,总会被植被冠层的叶子截留 ,这种截留的概率正比于太阳光穿 过植被冠层的路径长度及叶子密度 ,并且也与叶子的倾角有关 。一般叶面垂直于入射光线 ,其 截留光线的概率肯定要大于不垂直于入射光线的叶子 。如果单片叶子在光线透过的植物冠层 范围内是随机分布的 ,并且与整个植被冠层的厚度相比是很小的时候 ,那么对天顶角为θ , 方 位角为φ的一束光线 ( 即与观测方向一致的一束散射光) 而言 , 不被叶子截留的概率 T (θ ,φ ) 应为 : T (θ ,φ ) = exp〔- G (θ ,φ ) ·μ S (θ ,φ ) 〕 ( 1) 其中 , G (θ ,φ) 是叶子在垂直入射光线方向上的投影面积比 (即植被冠层空隙度 f ractio n) ,μ 是叶子的体密度 ( 每立方米体积内的叶子单叶表面积的总和) , S (θ ,φ ) 是光线通过植被冠层 的路径长度 ( m) 。如果透过植被冠层的一束光线方位角取平均数 ,则可以把方位角参数去掉 , 得到下式 : ln〔T (θ ) 〕 G (θ ) ·μ = - 式中 , K (θ ) 是太阳光接触叶子的频 数 。Miller ( 1967)〔3〕曾给出这种叶子体 密度的一个精确解 : K (θ ) ( 2) S (θ ) π/ 2 μ = 2∫ - l n〔T (θ ) 〕 θ θ sin d S (θ ) 0 ( 3) 图 1 形象地表达了植被冠层空隙 度 、传感器倾角 ( 即入射光线天顶角 θ) 与植被冠层平均叶角的关系 。对于均匀 覆盖植被的叶子 ,其叶面积指数 (