斯密特棱镜偏振特性的Mueller矩阵法分析探究和检测.pdfVIP

第35卷第1期 光学仪器 v01．35，No．1 2013年2月 OPTICALINSTRUMENTS February，2013 文章编号：1005—5630(2013)01—0012—06 * 斯密特棱镜偏振特性的Mueller矩阵法分析和检测 卢进军，朱维兵 (西安工业大学光电工程学院，陕西西安710032) 摘要：斯密特棱镜的偏振像差导致了成像质量的下降，对斯密特棱镜偏振像差的矫正效果的定 量检测成为-3务之急。Mueller矩阵法不仅可以用于斯密特棱镜偏振特性的分析，而且可以作 为斯密特棱镜偏振特性的表征和检测对象。采用双旋转延长器的结构，通过两个四分之一波片 的周期变化，对入射光的偏振态进行调制，用傅里叶级数法计算出斯密特棱镜Mueller矩阵元， 经分析计算和实验检测，得到其对应两路径的位相延迟差和双向衰减率都明显不相同。用双向 衰减率和位相延迟差表征斯密特棱镜的偏振像差，数据直接来自Mueller矩阵，直观、便捷是其 最大的特点。 关键词：偏振像差；Mueller矩阵；相位延迟差；双向衰减率 中图分类号：O436．3文献标识码：A hmidt ofthe prismpolarizationproperties Muellermatrixmethodfor and analyzingmeasuring LU Jinj“，z。ZHUWeibing of (School 710032，China) OptoelectronicEngineering，Xi’anTechnologicalUniversity，Xi’an Abstract：The aberrationoftheSchmidtresultedinthe—declineinthe polarization prism quality of aresult，the detectionoftheSchmidt tocorrectthe imaging，as quantitative prism a matrix be aberrationhasbecome methodcanusednot polarization toppriority．Mueller only forthe ofthe oftheSchmidt alsoasthe analysis polarizationproperties prism，but and characterizationdetected oftheSchmidt object prism’Spolarizationproperties．Dual retarder is incidentismodulated rotating con