斯密特棱镜偏振特性的Mueller矩阵法分析探究和检测.pdfVIP

斯密特棱镜偏振特性的Mueller矩阵法分析探究和检测.pdf

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第35卷第1期 光学仪器 v01.35,No.1 2013年2月 OPTICALINSTRUMENTS February,2013 文章编号:1005—5630(2013)01—0012—06 * 斯密特棱镜偏振特性的Mueller矩阵法分析和检测 卢进军,朱维兵 (西安工业大学光电工程学院,陕西西安710032) 摘要:斯密特棱镜的偏振像差导致了成像质量的下降,对斯密特棱镜偏振像差的矫正效果的定 量检测成为-3务之急。Mueller矩阵法不仅可以用于斯密特棱镜偏振特性的分析,而且可以作 为斯密特棱镜偏振特性的表征和检测对象。采用双旋转延长器的结构,通过两个四分之一波片 的周期变化,对入射光的偏振态进行调制,用傅里叶级数法计算出斯密特棱镜Mueller矩阵元, 经分析计算和实验检测,得到其对应两路径的位相延迟差和双向衰减率都明显不相同。用双向 衰减率和位相延迟差表征斯密特棱镜的偏振像差,数据直接来自Mueller矩阵,直观、便捷是其 最大的特点。 关键词:偏振像差;Mueller矩阵;相位延迟差;双向衰减率 中图分类号:O436.3文献标识码:A hmidt ofthe prismpolarizationproperties Muellermatrixmethodfor and analyzingmeasuring LU Jinj“,z。ZHUWeibing of (School 710032,China) OptoelectronicEngineering,Xi’anTechnologicalUniversity,Xi’an Abstract:The aberrationoftheSchmidtresultedinthe—declineinthe polarization prism quality of aresult,the detectionoftheSchmidt tocorrectthe imaging,as quantitative prism a matrix be aberrationhasbecome methodcanusednot polarization toppriority.Mueller only forthe ofthe oftheSchmidt alsoasthe analysis polarizationproperties prism,but and characterizationdetected oftheSchmidt object prism’Spolarizationproperties.Dual retarder is incidentismodulated rotating con

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