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苏州华科电子有限公司
标题：制程首件检验和巡回检验标准
规章编号： SUE3-051002
版次： A版
□ 制定 ■ 修订 □ 废止
修正前：
修正后：
检验规则中增加电性N=10PCS。
巡检2HR*台改为4HR*台。
制/修订者
制/修订者主管
发文单位
核准：□董事長
□总经理
■厂长
品保部
业务部
管理部
物控部
制造部
苏州华科电子有限公司
标题：制程首件检验和巡回检验标准
页次： 1/4
规章编号：
SUE3-051002
版次：A版
版次
生效日期
更改日期
分发原因
制/修订者
原版
A版
2000/11/28
2001/7/3
2001/7/2
制定
修订
郭宗辉
孙绮
苏州华科电子有限公司
标题：制程首件检验和巡回检验标准
页次： 2/4
规章编号：
SUE3-051002
版次：A版
1. 适用范围：
适用于本公司制程首件和巡回检验
2. 参考资料：
2.1 制程检验管理办法
2.2 SMD出货传票管理办法
3. 检验规则：
检验结果处理：
参考成品检验管理办法。
5. 附则：
5.1 本标准经厂长核准后实施，修订时亦同。
5.2 附件名称：
附件一：MLCC不良样板
附件二：CHIP-R不良样板
苏州华科电子有限公司
标题：制程首件检验和巡回检验标准
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规章编号：
SUE3-051002
版次：A版
附件一：MLCC不良样板
1.缺角： 2.MB黑： 3.撞伤：
4.陶体缺陷： 5.MB异物： 6.MB不良：
7.刮伤： 8.多镀： 9。裂痕：
苏州华科电子有限公司
标题：制程首件检验和巡回检验标准
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规章编号：
SUE3-051002
版次：A版
字跡模糊無法判讀183字跡脫落無法判讀
字跡模糊無法判讀
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字跡脫落無法判讀
附件二：CHIP-R不良样板
外觀缺點 :
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