第4-7次课(基础知识).pptVIP

9.缺陷位置和长度的确定 （1）缺陷平面位置的确定 获得缺陷的最大反射波所在的位置。（接触法） （2）缺陷埋藏深度的确定 荧光屏的水平刻度上读出。 （3）缺陷长度的确定 半波高度法（6dB法 ） 适用范围：缺陷面积大于声束截面。 T F B T F B T F B L 方法： （1）缺陷本身的大小、形状、取向、表面状态及内含物（和基体声阻抗不匹配），以及缺陷的埋藏深度； （2）仪器和探头的特性及它们之间的连接和匹配； （3）试件探测面的形状、粗糙度、基体组织结构等； （4）耦合条件 10.影响缺陷回波幅度的因素 二、典型构件的超声检测技术 1．大型锻件超声检测 （1）锻件的特点 特点： a.其组织经热变形可以变得很细 b.缺陷的取向、形态和分布情况受变形量和变形方向影响明显 c.缺陷多呈现面积型或长条形的特点，适宜于超声检测。 （2）锻件中最常见缺陷 缺陷来源：a.由铸锭中缺陷引起的缺陷 b.锻造过程及热处理中产生的缺陷 1）缩孔 2）缩松 3）夹杂物 4）裂纹 5）折叠 6）白点 钢锻件中由于氢的存在所产生的小裂纹。 （3）锻件超声检测的特点 检测方法：常采用直探头纵波脉冲反射法。 探头频率：2～10MHz，对组织很细的锻件可选10MHz以上的。 声束入射方向：尽可能使声束方向与锻造流线方向垂直。（见教材P40） 检测时机：原则上应选择在热处理后，冲孔、开槽等精加工工序之前进行。 2．铸件缺陷的检测 （1）铸件的特点 a.组织不均匀，一般来说晶粒比较粗大； b.组织不致密 c.表面粗糙，形状复杂 d.缺陷的种类和形状复杂 （2）铸件超声检测的特点 a.超声波穿透性差 b.杂波干扰严重 c.缺陷检测要求较低 * 第四节 由圆形压电晶片产生的声场简介 一、圆形压电晶片声场中的声压 圆盘声源轴线上的声压公式： 圆盘声源轴线上声压分布曲线 二、近场区、远场区和超声波的指向性 1．近场区 近场长度N：声源轴线上最后一个声压极大值点距声源的距离。 实际工作中近场长度的计算公式为： 近场区：声场中距离小于N的区域，又称菲涅尔区。 近场区的声压特点：声束扩展不明显，但由于干涉作用，声压与距离的关系较复杂，存在多个极大值点与极小值点。 2．远场区 远场区：大于近场长度N的区域，又称为夫琅和费区。 远场区声压特点：声压随距离的增大单调下降。 当 时， 3．超声波的指向性 主声束：超声场中超声波的能量主要集中于以声轴为中心的某一角度范围内，这一范围称为主声束。 声场的指向性：声束集中向一个方向辐射的性质。 副瓣声束：在主声束角度范围以外，还存在一些能量很低的、只存在于声源附近的副瓣声束。 指向角： 一、超声检测设备 1．超声波检测仪 第五节 超声波检测方法 （1）A型显示 横坐标——时间 纵坐标——信号幅度 xf B B F T tf tb 探头 缺陷 接收声压 超声波传播时间 优点：简单，方便，适用面广。 缺点：难以判断缺陷的几何形状。 （2）B型显示 横轴——探头移动的距离；纵轴——探伤深度 缺点：当声束照射的路径中存在大的缺陷时，其后面的小缺陷和底面反射就无法被记录下来。 （3）C型显示 显示的是试件的一个平面投影图。 优点：能得出缺陷的形状及大小。 缺点：不能确定缺陷的深度。 2．超声波探头 （1）工作原理 正压电效应：压电晶体在拉力或压力作用下形变时产生交变电场的现象。——接收超声波。 逆压电效应：压电晶体在交变电场作用下产生伸缩形变的现象。——产生（发射）超声波。 压电晶片 （2）探头的结构 ①压电晶片 以压电效应发射并接收超声波的元件。 ②阻尼块和吸声材料 a.阻尼吸收块 作用：ⅰ.对压电晶片的振动起阻尼作用 ⅱ.吸收晶片向其背面发射的超声波 ⅲ.对晶片起支撑作用 ③保护膜 ④斜楔 （3）探头的主要种类 ①接触式纵波直探头 用于发射垂直于探头表面传播的纵波 ②接触式斜探头 包括横波斜探头、瑞利波探头、兰姆波探头等。 特点：压电晶片贴在一有机玻璃斜楔上，晶片与探头表面成一定倾角。 其他：双晶探头、水浸探头、可变角探头等。 （4）探头的主要性能指标 ①频率 频率对超声波检测的主要影响： 1）超声波的检测灵敏度约为 ； 2）频率高脉冲宽度小，分辨力高； 3）频率高，声束指向性好，能量集