ASME常用规程及标准.doc

AMSE RT: PW-51 （第Ⅰ卷） A-250 （第Ⅰ卷） 焦距： 射线照相的几何不清晰度由下式决定：Ug=Fd/D Ug-几何不清晰度 F-射线源尺寸. 英寸(mm) D-射线源到被透照工件的距离. 英寸(mm) d-被透照工件的射线源一侧至胶片的距离. 英寸(mm) 厚度英寸(mm) Ugmax英寸(mm) 2(50) 0.020(0.51) 2-3(50-75) 0.030(0.76) 3-4(75-100) 0.040(1.02) 4(100) 0.070(1.78) 2.透照技术 2.1单壁单像透照：壳体焊缝、平板焊缝和具备单壁透照条件的焊缝均应采用单壁透照。 2.2 双壁透照 2.2.1双壁单像透照：接管、集箱和φ＞3.5英寸(89mm)的管子焊缝采用双壁透照单壁成像方式。当对环焊缝要求全部覆盖时，至少应互成120°作三次曝光。 2.2.2 φ＜3.5英寸(89mm)的接管或管子焊缝可采用双壁透照双壁焊缝同时成像观察的方式。 3.像质计 A 组 B 组 C 组 D 组 线径 in. (mm) 线号 线径 in. (mm) 线号 线径 in. (mm) 线号 线径 in. (mm) 线号 0.0032 (0.08) 1 0.010 (0.25) 6 0.032 (0.81) 11 0.100 (2.54) 16 0.0040 (0.10) 2 0.013 (0.33) 7 0.040 (1.02) 12 0.126 (3.20) 17 0.0050 (0.13) 3 0.016 (0.41) 8 0.050 (1.27) 13 0.160 (4.06) 18 0.0063 (0.16) 4 0.020 (0.51) 9 0.063 (1.60) 14 0.200 (5.08) 19 0.0080 (0.20) 5 0.025 (0.64) 10 0.080 (2.03) 15 0.250 (6.35) 20 0.0100 (0.25) 6 0.032 (0.81) 11 0.100 (2.54) 16 0.320 (8.13) 21 单壁材料的标称厚度范围 in.(mm) 像质计 射线源一侧 底片一侧 孔型像质计 指示器线号 线型像质计 指示器线号 孔型像质计指示器线号 线型像质计 指示器线号 ≤0.25(6.4) 12 5 10 4 ＞0.25(6.4) ~ 0.375(9.5) 15 6 12 5 ＞0.375(9.5) ~ 0.50(12.7) 17 7 15 6 ＞0.50(12.7) ~ 0.75(19.0) 20 8 17 7 ＞0.75(19.0) ~ 1.00(25.4) 25 9 20 8 ＞1.00(25.4) ~ 1.50(38.1) 30 10 25 9 ＞1.50(38.1) ~ 2.00(50.8) 35 11 30 10 ＞2.00(50.8) ~ 2.50(63.5) 40 12 35 11 ＞2.50(63.5) ~ 4.00(101.6) 50 13 40 12 ＞4.00(101.6) ~ 6.00(152.4) 60 14 50 13 ＞6.00(152.4) ~ 8.00(203.2) 80 16 60 14 ＞8.00(203.2) ~ 10.00(254) 100 17 80 16 ＞10.00(254) ~ 12.00(304.8) 120 18 100 17 ＞12.00(304.8) ~ 16.00(406.4) 160 20 120 18 ＞16.00(406.4) ~ 20.00(508.0) 200 21 160 20 4．黑度 射线源 增感屏 观察方法 黑度 Χ线 铅箔 单片 双片 最小为1.8 每张最小为1.3 最大为4.0 复合观片最大为4.0 γ线 铅箔 单片 双片 最小为2.0 每张最小为1.3 最大为4.0 复合观片最大为4.0 (a) 如果射线照相上被检区任何部位的黑度变化超过孔型像质计本体处或线型像质计编号附近的黑度-15%或+30%以上，但仍处于上表规定的最小和最大容许黑度范围内，则对每个超过的区域应加一个像质计并重新拍片。 (b) 当采用垫片时，只要能显示出所要求的像质计灵敏度，而且不超过(a)所规定的黑度范围，则允许超过上表中规定的+30%黑度限制上限。 5.验收标准： 1.1 射线照相的焊缝部分显示出下列类型缺陷应判为不合格； 1.1.1 任何显示特征如裂纹或未熔合或未焊透； 1.1.2 任何条状夹渣长度大于； 　　(a) t3/4英寸(19mm)时，为1/4英寸(6mm) (b) t3/4英寸(19mm)～2.25英寸(57mm)时，为1/3t (c) t2.25英寸(57mm)时，