内串石墨化质量控制的探讨.docxVIP

·经验交流·内串石墨化质量控制的探讨赵修富，刘 ·经验交流· 内串石墨化质量控制的探讨 赵修富，刘炳强 （山东八三炭素厂，山东 淄博 (--+） 摘 要： 提出了内串石墨化生产过程中出现的主要质量问题，并对产生的原因和控制预防措施进行了初步的分 析探讨。 关键词：内串石墨化；质量；探讨 中图分类号：./(0 1 文献标识码：2 文章编号：$$3+4（($$）$43$$4)3$+ :.1%011.)* )* /0;.+ %)*+’); :0’.*= ;,*=+-.1, =’?-.+.@+.)* ?’)%,11 5678 9:;3;，=? 2:@A3B:C@A （DEC@FG@A 2CHC@ ICJKG@ LMC@NO DEC@FG@A 5:KG (--+O IE:@C） ABCDEFCG .EP QC:@ B;CM:NR SJGKMPQ :@ NEP MP@ANET:HP AJCSE:NUCN:G@ SJGVPHH :H SG:@NPF G;N0 .EP JPCHG@ VC;HPF NEP B;CM:NR SJGKMPQ C@F NEP HGMW:@A QPCH;JPH CJP F:HV;HHPF0 HIJ K8DLBX =P@ANET:HP AJCSE:N:UCN:G@ SJGVPHH；B;CM:NR；F:HV;HH:G@ 内串石墨化工艺技术因其具有加热速度快，电 能消耗低，不用电阻料，石墨化均质性好，生产周期 短等优点，已被越来越多的石墨电极生产厂家所应 用。而内串石墨化工艺与艾奇逊石墨化工艺的根本 区别，决定了在工艺控制方面需要有不同的工艺控 制方法和要求，生产过程中出现的质量问题与解决 问题的方法和途径也会有着显著的不同。就内串石 墨化生产来讲，所表现出来的主要质量问题大致有 以下几个方面：电极整体纵裂、端部裂纹、端部氧 化、表面氧化、表面侵蚀、电阻率偏高等。如何避免 或减少出现上述的质量问题呢？出现上述的质量问 题后应从哪些方面进行分析并采取相应的控制和 预防措施呢？笔者根据近年来自己的一些实践认识 和体会，就内串石墨化质量问题的原因分析和控制 预防措施谈一下自己的看法，期望能够对同行业的 生产起到一些引导和借鉴作用。 质量问题的分析与控制 # 电极整体纵裂 电极整体纵裂是内串石墨化生产中经常遇到 的质量问题，也是影响电极生产成本的大问题。造 成电极整体纵裂的主要原因有以下几个方面： ! # 送电升温曲线设计不合理所致。如因为送 电升温曲线中前期设计的运行功率过高或时间过 短，快速提高功率的时间过早或过快，都会导致电 极升温速度过快，致使电极内部应力的变化超出 制品本身膨胀的极限应力而形成纵裂。一般在设 计送电曲线时，温度在 $$$ % $$ ’ 阶段应严 格控制升温速率，在 ( $$$ ’ 左右提高功率时也不 #$ # 作者简介：赵修富 男 )*+ 年出生，工程师，现任山东八三炭素厂生产处处长，长期从事炭素生产管理工作，已发表论文数篇。 收稿日期：($$ , $* , - ·!·%( 年炭 素技 术宜过快! # 。从国 ·!· %( 年 炭 素 技 术 宜过快! # 。从国内目前焙烧品的质量情况来看，中小 规格低品质要求的产品总的送电时间一般控制在 $ % 左右即可，而中大规格高品质要求的产品应适当 延长，根据具体情况一般控制在 ’ ( % 为宜。 接触面受力情况不均匀，压力偏大的部位接触电流 偏大，导致热应力过于集中而形成端部裂纹。当系 统压力不足或偏低时，中部串接柱接触电阻明显大 于两端部位串接柱的接触电阻，导致中部串接电极 接触面温度过高而出现端部裂纹。在电极装炉操作 时应控制各串接柱中心在一组平行线上，确保加压 顶紧后各接触面不同部位受力情况均匀，同时应保 证系统有足够的压力，确保各接触面的受力情况接 近一致。 ) / * 送电后期顶紧压力滞后或不足。焙品电极 在进入石墨化阶段快速收缩时，有时因系统顶紧压 力没有及时调整跟进，导致顶紧压力滞后或不足， 使电极端面的接触电阻增大，端部温升速率过快导 致端部裂纹。 ) * 电极装炉操作不当所致。如电极与电极两 端面导电接触面积过大，致使电极中心部位通过的 电流过大，制品内部的热膨胀应力大于表层而形成 纵裂。制品多柱装炉时柱与柱之间的焙品平均电阻 率偏差过大或顶紧压力不均匀，也会导致炉芯偏 流，使电极各部温差过大而造成纵裂。通常的做法 是应当让电极表层通过的电流密度大于中心部位 的电流密度，使电极表层先膨胀，为中心部位的升 温膨胀做好准备。目前较好的方法是采用适当厚度 和密度的柔性石墨垫环作端面接触介质 ! # ，其特点 是本身电阻率低，导电端面接触性能好。石墨垫环 形 成 的 导 电 接 触 面 积 以