彩色线阵CCD图像传感器实验.ppt

* 测试端子：供示波器测量用，包括CCD所有驱动信号和二值化实验测量信号。 顶部盖板：打开后可以看到内部镜头和光源，调节镜头光圈和对焦（如下图）必须打开顶部盖板。 * 物镜光圈的调整 调整焦距 * 片夹：本实验仪共提供9个测量片夹：其中6个有“A”——“F”编号，1个三色片夹（RGB三色），1个用于图像扫描片夹以及1个空白片夹。 片夹在打开仪器顶部盖板后插入光源前面的片夹夹具内。 * 三、实验仪的基本测试 参照讲义第16页。 注意：用CH2测量TO测量接线柱，调节阈值旋钮，观察其电平是否变化，最后调节至2V左右。 * 驱动频率调整到“1”档，按下二值化开关，面板显示测量信号宽度的像素个数，显示结果范围在“100”——“2500”之间并在小范围内变化（不超过20）。 如果面板显示“EEEE”闪烁，表示上述调节不当，应重复7－9步骤调节。 * 四、软件使用说明 参照讲义第18页。 注意：用CH2测量TO测量接线柱，调节阈值旋钮，观察其电平是否变化，最后调节至2V左右。 * 第三节 实验指导 * 实验一 线阵CCD原理及驱动 * 实验目的 掌握本实验仪的基本操作和功能。 掌握用双踪迹示波器观测二相线阵CCD驱动脉冲的频率、幅度、周期和各路驱动脉冲之间的相位关系等的测量方法。 * 线阵CCD驱动脉冲的时序和相位关系观测，掌握二相线阵CCD的基本工作原理。 尤其是复位脉冲在CCD输出电路中的作用；转移脉冲与驱动脉冲间的相位关系，掌握电荷转移的过程。 * 实验二 线阵CCD特性测量实验 * 实验目的 。 通过对典型线阵CCD在不同驱动频率和不同积分时间下的输出信号测量，进一步掌握线阵CCD的有关特性，加深对积分时间的意义的掌握，以及驱动频率和积分时间对CCD输出信号的影响。理解线阵CCD器件的“溢出”效应。 * 实验三 线阵CCD输出信号的二值化 * 实验目的 通过本实验进一步掌握线阵CCD的输出特性，了解运用线阵CCD进行物体尺寸和位置测量的基本方法。 近一步掌握CCD积分时间对物体尺寸和位置测量的影响。 掌握用Matlab编程语言提取线阵CCD输出信号UO所含物体边界信息的方法。 * 实验四 线阵CCD的A/D数据采集 * 实验目的 掌握线阵CCD的A/D数据采集的基本原理。 进一步掌握线阵CCD积分时间与光照灵敏度的关系。 * 结束 * * 时钟波形电平变化发生在一定状态变化时刻，这样任意一路信号都被分为上万个状态，处于某一状态时，各路信号或1或0，构成一个状态的数据。 将数据依次装入可擦除只读存储器EPROM中，只要等时间间隔地依次输出这些数据就形成了CCD所需的各路波形。 * 3、单片驱动方法 单片机是靠指令产生I/O口的输出逻辑状态来产生驱动时序。 由于线阵CCD 的典型复位脉冲是1MHz，对单片机的速度有一个最低要求，所以要实现这种驱动方法必须使用指令周期小于1μs 的单片机，如AVR单片机。 * 单片机驱动连接示意图 * 4、可编程逻辑器件设计法 这种设计方法就是使用与器件对应的基于Windows的开发软件，这类软件一般都支持电路图、VHDL或Verilog HDL输入方式及仿真。 首先按CCD时序发生器的原理将其分成高低几个逻辑关系层。 * 利用模块化的设计方法，对各部分逻辑关系使用原理图与硬件描述语言混合进行描述。 并进行逐级仿真，以确保时序的正确性。 最后将编译生成的JEDEC文件下载到可编程芯片上。 * 基于FPGA的驱动连接示意图 赛灵思(XILINX)、阿尔特拉(Altera)等公司均有FPGA产品，虽然不同公司的产品在结构上差异较大，但都能实现可重复编程开发的功能。 * 5、四种方法的比较 早期的CCD驱动电路几乎全部是由普通数字电路芯片实现的，由于需要复杂的三相或四相交迭脉冲，一般整个驱动电路需要20个芯片左右，体积较大，设计也复杂，偏重于硬件的实现，调试困难，灵活性较差。 * EPROM（或E2PROM）法，设计思想十分显然，不论对任何型号的CCD，其硬件结构几乎不需要变化。只需按CCD的典型驱动波形图，将EPROM 输出数据与CCD信号相对应，以及将波形转化成数据即可，设计起来十分简单。 * 单片机驱动方法与EPROM方法有些相似。EPROM方法每改变地址就输出新的状态数据，单片机法每改变一次端口输出指令就改变了输出数据。在这种设计方法中，硬件电路非常简单，但是存在资源浪费较多，频率较低的缺陷。 * 可编程逻辑器件设计法实现的系统集成度高、速度快、可靠性好。 系统每一功能模块完成后可单独仿真。 整个系统完成时也可在计算机上进行仿真，不需要外部测试仪器就可以检查修改设计中的问题。 * 另外，利用ISP技术（系统内可编程技术）后，系统提供