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* 页眉 * * 页眉 * * 注意:这种选择一般考虑到成本、机器的可能偏移、检验人员、测量设备等因素权衡之后的实际结果。 不仅仅是一个统计学结果,更是一个经济学的结果。 * 调查表明是该检验员当时委托他人代为测量,而这代理人不适于操作精密测量设备,可能读数不准确,有可能伪造数据。 步骤7:确定控制限是否能经济地满足要求; 步骤8:运用控制限进行控制; 四、计量型数据控制图 均值-极差控制图( ) 最常用;最基本; 控制对象为计量值; 适用于n ≤9的情况; 均值图用于观察和分析分布的均值的变化,即过程的集中趋势; 极差图观察和分析分布的分散情况,即过程的离散程度。 四、计量型数据控制图 均值控制图 极差控制图 均值-极差控制图 -控制限 四、计量型数据控制图 4、X bar-s图 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 B4 3.27 2.57 2.27 2.09 1.97 1.88 1.82 1.76 1.72 B3 * * * * 0.03 0.12 0.19 0.24 0.28 A3 2.66 1.95 1.63 1.43 1.29 1.18 1.10 1.03 0.98 计算各样组的平均数 计算这些组平均数的平均数 各常数值如下: 四、计量型数据控制图 5、X med-R图 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 m3 A2 1.88 1.19 0.80 0.69 0.55 0.51 0.43 0.41 0.36 计算各样组的中位数 计算这些组中位数的平均数 各常数值如下: 四、计量型数据控制图 6、X-Rm图-1 移动极差是指一个测定值 xi 与紧邻的测定值xi+1 之差的绝对值,记作MR,MRi = | xi - xi+1 | (i=1,2,…,k-1) 其中:k为测定值的个数; k个测定值有k-1个移动极差,每个移动极差值相当与样本大小n=2时的极差值. 1 计算总平均数: 2 计算移动极差平均数: 怎样确定控制限 四、计量型数据控制图 相当于n=2时的均值控制图 X控制图 MR控制图 相当于n=2时的极差控制图; n=2时,D4=3.267,D3=0 各常数值如下: n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 E2 2.66 1.77 1.46 1.29 1.18 1.11 1.05 1.01 0.98 样本容量小于7时,没有极差的控制下限。 6、X-Rm图-2 四、计量型数据控制图 1、P图/不良率控制图 -1 ◆ P图是用来测量在一批检验项目中不合格品(缺陷)项目的百分数。 ◆ 步骤: 1收集数据,选择子组容量、频率 和数量: -子组容量:需足够大(最好能恒定),并有包含几个不合格品。 -分组频率:根据实际情况,兼容量大和信息反馈快的要求。 -子组数量:收集的时间需足够长,使得可以找到所有可能影响到过程 变差源,一般为25组 2计算每个子组的不良率(P): P=np /n 3选择控制图的座标刻度并将不良率绘到图上。 4计算控制界限: -计算过程不良率(P bar): P bar=(n1p1+n2p2+…+nkpk)/ (n1+n2+…+nk) 五、计数型数据控制图 注:1 从上述公式看出,凡是各组容量不一样,控制限随之变化。 2 在实际运用中,当各组容量不超过其平均容量25%时,可用平均样本 容量 n 代替n来计算控制限USL;LSL。方法如下: 1、P图/不良率控制图 -2 -计算控制上、下限(P bar): ni P P P LCL ni P P P UCL P P ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 - - = - + = 五、计数型数据控制图 1、P图/不良率控制图 -3 3 划线并标注: 过程平均(P)为水平实线,控制限(USL; LSL)为虚线。 (初始研究时,这些被认为是试验控制限。) 五、计数型数据控制图 P控制图实例 1.收集的数见下表: 五、计数型数据控制图 根据公式计算各 样本组的上下控制限 在实际应
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