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目 录
TOC \o 1-3 \h \z
29907 第1章 总体设计方案 1
2973 1.1 设计原理 1
20896 1.2 设计思绪 2
15333 1.3 设计环境 3
30167 第2章 具体设计方案 5
5293 2.1 顶层方案图设计和实现 5
27988 2.1.1创建顶层图形设计文件 6
12886 2.1.2器件选择和引脚锁定 6
27424 2.1.3编译、综合、适配 8
2882 2.2 功效模块设计和实现 8
25993 2.2.1模2除法器设计和实现 8
6172 2.2.2移位寄存器设计和实现 10
10207 2.3 仿真调试 11
32533 第3章 编程下载和硬件测试 14
12067 3.1 编程下载 14
25182 3.2 硬件测试及结果分析 14
4397 参考文件 15
13100 附 录(电路原理图) 16
第1章 总体设计方案
设计原理
循环冗余校验码(cyclic redundancy check,CRC)简称为循环码或CRC码。二进制信息沿一条信号线逐位在设备之间传送称为串行传送,CRC码常见于串行传送过程中检错和纠错。
CRC码编码格式图1.1所表示,是在k位有效数据以后添加r位校验码,形成总长度为nCRC码,简写作C(n,k)码。CRC编码关键技术在于怎样从k位信息简便得到r位校验码,并依据总长度为nCRC码进行纠错。
图1.1
设被校验数据是一个k位二进制代码,将它表示为一个(k-1)阶多项式
(1-1)
多项式(1-1)中系数D取值为0或1,和被校验数据M一一对应;式中x是一个伪变量,用指明各位位置。
设校验码P长度为r,将被校验数据D左移r位后结果为
将D左移r位目标是给D右边添加r个0,形成(k+r)位长度二进制代码,其多项式形式为M(x)×。图1.1所表示,CRC码由k位数据D和r位校验码P组成,求校验码P多项式R(X)方法以下:
? (1-2)
Q(x)是商,R(x)是余数,R(x)所对应二进制代码是校验码P。能够证实存在一个最高次幂为n- k=r 多项式G(x) ,即式(1-2)中G(x),称为生成多项式。
由式(1-2)能够推导出
(1-3)
由式(1-3)可知,CRC码可被G(x)整除,余数肯定为0.。依据这一特征,接收方将收到CRC码被G(x)除,若余数为0,则表明传送过程中没有错误发生,若出现一位错,依据余数和犯错位一一对应关系,可利用余数对错误码进行定位。所以,接收方可依据表1.1发觉并纠正1位错。
Q6
Q5
Q4
Q3
Q2
Q1
Q0
余数
犯错位
正确
1
1
0
0
0
1
0
0
0
0
无
错误
1
1
0
0
0
1
1
0
0
1
Q0
1
1
0
0
0
0
0
0
1
0
Q1
1
1
0
0
1
1
0
1
0
0
Q2
1
1
0
1
0
1
0
0
1
1
Q3
1
1
1
0
0
1
0
1
1
0
Q4
1
0
0
0
0
1
0
1
1
1
Q5
0
1
0
0
0
1
0
1
0
1
Q6
表1.1 循环校验码犯错模式
设计思绪
依据题目要求,信息位k=4,r=n-k=3可知此次试验关键是完成(7,4)码生成和校验。CRC码生成电路关键关键由移位寄存器和模2除法器组成,信息位以串行方法输入。依据CRC码生成和校验原理可知,生成电路中由输入端串行输入数据D左移3位后,和生成多项式G(x)做模2除法,并将得到3位余数和4位信息码拼接成7位CRC码。校验电路原理同生成电路,关键由移位寄存器、模2除法器和3.8译码器组成。将待检测CRC码串行输入到模2除法器和移位寄存器中去,求得3位余数,利用3.8译码器译码将三位余数译码,经过比较能够找出犯错位,并将译码结果和移位寄存器输出结果进行异或,便得到纠正后正确结果。
CRC码生成和校验电路关键包含两个部分:
1.生成电路。由移位寄存器接收数据并进行移位,生成多项式由开关直接送入,输入数据和生成多项式经过模2除法器最终生成CRC码。
2.校验电路。原理类似生成电路,校验电路中增加了3-8译码器。3-8译码器和异或门共同完成对信息码校验和纠正,最终输出校验后信息码。
本设计方案采取元件有模2除法器模块,移位寄存器模块,3-8译码器,和门,异或门。
移位寄存器由7个D触发器组成。
模2除法器由若干两输入和门,若干两输入异或门和D触发器组成。
1.3 设计环境
(1)硬件环境:
伟福COP 型计算机组成原理试验仪、XCV200试验板、微机。
?COP 集成调试软件
COP 集成开发环境是为COP 试验仪和PC 机相连进行
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