控制系统的根轨迹分析方法 自控原理 教学PPT课件.pptx

控制系统的根轨迹分析方法 ;伊凡思(W.R. Evans)发明根轨迹法;本章主要内容;;1、根轨迹举例;K取不同值： ;总结：;例4-1-2 ; 阻尼系数为0.5时的射线与根轨迹交点处的K值可以计算出来。 ;§2 根轨迹的基本性质及绘图规则;;绘制根轨迹必须满足的基本条件：;注意：1. 这两个条件是从系统闭环特征方程中导出的，所有满足以上两式的s 值都是系统的特征根，把它们在s平面上画出，就构成了根轨迹。;例4-2-1 ;2、绘制根轨迹的基本规则;;;;;对于例题，;;证明： ;由对称性知， ;;由求极值的公式求出： ;在例题4-2-2中， ;; 与虚轴的交点为;;证明： ;此时，出射角 可以计算：;例4-2-3 ;例4-2-4 ;;例4-2-4 ;例4-2-4 ;例4-2-5 ;例4-2-5;例4-2-5;例4-2-5;例4-2-5;;;;例4-2-6 ;例4-2-6 ;§3 根轨迹方法的推广;1、单参数根轨迹;（1）等效开环传递函数; 2、;3、;参数根轨迹绘制总结：;（2）参数根轨迹的画法;分析：;还可以画出在p=0时，K从零到无穷大变化时的根轨迹。 ;2、多参数根轨迹;有两种做法：;（2）分别取p为不同值，画出参数K变化时的根轨迹。 ;表面看来， ;§4 控制系统根轨迹分析;以下： l??主要分析和讨论影响根轨迹形状的因素如系统特征根在S平面上的位置与动态指标的关系，;一、特征根与系统动态指标的关系;;共轭复根;;1、超调量σ和衰减比n ;;3、调节时间ts（过渡时间） ;4、余差;综上所述， ;二、开环极点对系统质量的影响;分离点：-0.146，;如果，;;;三、开环零点对系统质量的影响;图4-17是系统的根轨迹。;例4-4-3 ;(2)若选用Td=0.5， ;分析 ;（3）若选用Td=1.25， ;例4-4-3 ;例4-4-4 ;;§5 控制系统根轨迹设计方法;;设计步骤：;二、校正方法和基本校正装置;（3）增加偶极子;偶极子的传递函数为 ，由于 ，因此，系统的闭环极点s满足：;（4）超前校正装置（微分校正）;（5）滞后校正装置（积分校正） ;（6）微分－积分校正 ;三、根据控制指标设计K;;;K开=40/24=1.83。;四、超前补偿器（微分校正）;超前补偿器近似于PD控制;解决方法：;五、滞后补偿器（积分校正） ;现增加一个积分补偿环节。;一般设计方法：;总结： ;l??把确定的K值代入闭环特征方程，求解。