复用的SOC测试技术.docxVIP

PAGE 1 PAGE 1 复用的SOC测试技术  本文在分析SOC与SOB（systemonboard）本质区分的基础上，阐明复用对于SOC测试的重要性，对现有主要几类基于复用思想的SOC测试进行分析。  1引言  90年月国际上出现的SOC概念，以系统为中心、基于IP模块多层次、高度复用的设计思想受到普遍重视和广泛应用。SOC的高集成度和复杂度使得SOC测试面临挑战，传统的基于整个电路的测试方法不再适用。对于IP模块和SOC而言，在电路设计向可复用这一目标发展的同时，测试中的复用也变得愈加重要，成为解决SOC测试的关键，也成为目前该领域研究的焦点。本文在分析SOC与SOB（systemonboard）本质区分的基础上，阐明复用对于SOC测试的重要性，对现有主要几类基于复用思想的SOC测试进行分析。  2SOC的测试  SOC使集成电路设计者分为两个部分：IP模块的设计者和SOC集成者（IP模块的使用者）。IP模块是设计者供应的具有特定功能和相关参数描述的模块；而SOC集成者利用它们和用户自定义规律（UDL）集成在一起，实现既定的功能。从表面上看，这种设计类似于传统的基于芯片的SOB设计，但二者存在本质区分。  SOB中的IC是经制造生产和测试后的实体，因此对SOB集成者而言，测试是针对系统中IC之间连接的测试。在SOB的设计集成过程中，IC的制造商和系统的集成者有相对独立的测试开发和实施阶段，如图1所示。从描述的层次而言，SOC中的IP模块可以分为软核、固核以及硬核。每一个核又可以是若干更小的模块共同构成,但无论什么模块，相对于SOB中的芯片而言是虚拟器件，在进行SOC集成设计时都未经物理实现。IP模块供应者对所设计的虚拟模块进行测试开发，却不能对IP模块进行实际的物理测试。因此IP模块设计者和SOC集成者的测试开发和实施将不再是彼此独立和分割的两个阶段。SOC集成者要完成包括IP模块在内的整个芯片的测试方案。因此，SOC测试较传统的SOB测试而言，更加复杂，也更具挑战性。 图1SOB与SOC测试的比较 3复用技术与SOC测试  随着技术的发展和市场的需要，IP模块和SOC的设计正渐渐以分布和并行的方式进行。来源于不同的各种IP模块的多层次复用是SOC的基础。IP模块是对功能和实现方式的描述，是未经物理实现的虚拟器件，不同类型的IP模块有不同的模型和测试方法，IP模块的供应者虽然无法对模块进行物理测试，但必需向SOC集成者供应模块的测试信息，其中包括模块的测试方法、可测性结构、测试产生方法及测试集等。假如不以这些模块的测试信息为基础，SOC集成者就无法对高达千万门级的芯片进行测试，而复用则是SOC测试的关键。因此，国际上IEEEP1500工作组和VSIA（virtualsocketinterfacealliance）联盟正在制定相关的国际标准，研究焦点集中于规范IP模块设计者和SOC集成者之间的软硬件接口，如模块测试语言（CTL，）和可扩展结构，以实现SOC测试中IP模块测试信息的即插即用。但标准并不进行复用方法和测试集成及优化的研究，有很多问题尚未解决。因此采用何种方式复用，如何解决复用中遇到的问题成为目前SOC测试研究的焦点之一。从复用的角度，现有的SOC测试解决方案大致分为两类：直接复用和间接复用。  3.1直接复用  该方法的基本思路是自顶向下，直接在芯片级使用已有的模块测试信息，通过实现对每个IP模块的测试访问从而解决整个芯片的测试。核心是通过构建测试通路实现对各IP模块的测试访问，前提是各IP模块都具有良好的可测性和完整的测试信息。这类方法的有效性关键在于两个方面，即各模块原有测试信息的质量和在SOC中各模块测试访问的实现。详细的方案如下。  ①测试总线。ARM公司发布的32位AMBA（advancedmicrocontrollerbusarchitecture）总线结构，通过解决每个IP模块的测试访问问题来最终完成整个SOC的测试，但其兼容性、测试费用及测试时间上有其局限性。DuelTechnologies公司也作了类似的工作，提出了“测试总线”，连接每个IP模块，虽然优化了测试所占用的芯片面积，但无法同时将多个IP模块连到总线上进行测试。  ②端口访问。Intel公司提出将每个IP模块的接口端通过多路选择器接到芯片的引脚上直接进行访问。但当IP模块增加时，对多路选择器的掌握就会过于复杂，且该方法对IP的端口数有明确的限制。  ③模块的透明模型。文献提出一种基于IP模块透明模型的方法，它要求每个IP模块都有一种工作模式——透明模式。当对SOC中某一个IP模块进行测试时，其它模块均处于透明模