SPC统计过程控制2.pptVIP

产生波动 人 机器 材料 方法 测量 环境 波动的原因 二、基本的统计概念-波动 第十二页，共六十页。 指的是造成随着时间推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因，我们称之为：“处于统计控制状态”、“受统计控制”，或有时间称“受控”，普通原因表现为一个稳定系統的偶然原因。只有变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。 如设备的正常震动，刀具的磨损，同一批材料的品质差异，熟练工人间的替换等。 波动的原因 二、基本的统计概念-波动 普通原因 第十三页，共六十页。 指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成(整个)过程的分布改变。除非所有的特殊原因都被查找出来并且采取了措施，否則它们将继续用不可预测的方式来影响过程的输出。如果系统内存在变差的特殊原因，随时间的推移，过程的输出将不稳定。 如设备故障，原材料不合格，没有资格的操作工、未按照作业指导书操作、工艺参数设定不对等。 波动的原因 二、基本的统计概念-波动 特殊原因 第十四页，共六十页。 波动的区别 二、基本的统计概念-波动 第十五页，共六十页。 二、基本的统计概念-波动 波动的种类 正常波动 由普通(偶然)原因造成。 正常波动引起工序质量微小变化，难以查明或难以消除。它不能被操作工人控制，只能由技术、管理人员控制在公差范围内。 异常波动：是由特殊(异常)原因造成 异常波动引起工序质量变化较大，容易发现，应该由操作人员发现并纠正。 第十六页，共六十页。 基本统计计量说明 二、基本的统计概念-统计计量数据 总体 调差研究对象的全部 用“N”表示 样本 研究总体的情形和某种目的从总体中抽取一部分的代表者 用“n”表示 第十七页，共六十页。 基本统计计量说明 二、基本的统计概念-统计计量数据 算数平均数 X 设X1，X2，…….Xn是一个大小为n的样本， 则X=（X1+X2+……+Xn)/n 中位数X 将数据按数值大小顺序排列后，位于中间位置的数，称为中位数。 如：5，9，10，4，7， X=7； 如：5，9，10，4，7，8 X=（7+8）/2=7.5 第十八页，共六十页。 基本统计计量说明 二、基本的统计概念-统计计量数据 极差R 样本数据中的最大值Xmax与最小值Xmin的差值。 R= Xmax- Xmin。 如：5，9，10，4，7， R=10-4=6； 第十九页，共六十页。 基本统计计量说明 标准偏差s 、 ? 指各数据偏离平均值的距离 的平均数，反映数据离散程度， 总体标准偏差s 样本的标准偏差 ? 如：5，9，10，4，7， s=2.28； 如：7，7，7，6，8， s=0.63； 数据整体分布离平均值越近，标准方差就越小； 数据整体分布离平均值越远，标准方差越大。 第二十页，共六十页。 正态分布 二、基本的统计概念-正态分布 一种概率分布,生产与科学实验中很多随机变量的概率分布都可以近似地用正态分布来描述。 概率 第二十一页，共六十页。 特点： 中间高，两边低，左右对称；两边伸向无穷远。 σ越小，分布越集中在μ附近，σ越大，分布越分散。 μ (mu)- 位置参数和平均值（mean value) ，表示分布的中心位置和期望值 ? (sigma) - 尺度参数（分布宽度），表示分布的分散程度和标准偏差 正态分布 二、基本的统计概念-正态分布 第二十二页，共六十页。 面积定论： 不论μ与σ取值如何 1.X轴与正态曲线之间的面积恒等于1； 2.正态分布下，横轴区间[μ ? 3?， μ +3?] 的面积为99.73%。 正态分布 二、基本的统计概念-正态分布 第二十三页，共六十页。 正态分布-普通原因产生的变差 二、基本的统计概念-正态分布 第二十四页，共六十页。 正态分布-特殊原因产生的变差 二、基本的统计概念-正态分布 第二十五页，共六十页。 制程能力分析前提 过程处于统计稳定状态 过程中测量值服从正态分布 测量变差相对较小，一般可以忽略不计 工程及其他规范准确地代表顾客的需求，设计目标值位于规范中心 二、基本的统计概念-CPCPK指数 第二十六页，共六十页。 二、基本的统计概念-CPCPK指数 A B 第二十七页，共六十页。 CP值定义 技术要求 工序能力，指客户要求对过程要求，代表精密度 二、基本的统计概念-CPCPK指数 CP=技术要求/过程分布 第二十八页，共六十页。 CP值计算 CP=(规格上线-规格下线）/6 σ 二、基本的统计概念-CPCPK指数 在正态分布情况下，分散幅度处于6 σ范围内的比率为99.73%。分散幅度6 σ表示该工序具有的实际加工精度。 CP值的大小可定量计算出该工序的不合格率，可反映工序品质水