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* ASUS confidential ASUS confidential * ASUS confidential * SPC統計手法簡介Statistical process control 製作:品保課 第一页，共二十四页。 統 計 製 程 管 制 經由製程中去收集資料，而加以統計分析，從分析中得以管制製程是否穩定。 若製程異常，可經由問題分析以找出異常原因，並立即採取改善措施與標準化，使製程恢復正常。 若製程穩定，可透過製程能力分析、改善措施與標準化，以不斷提升製程能力。 第二页，共二十四页。 1.??? 市場分析 2.??? 產品設計 3.??? 相依性規格、壽命及耐用性預測 4.??? 製程管制及製程能力研究 5.??? 製程改善 6.??? 安全評估／風險分析 7.??? 驗收抽樣 8.??? 數據分析，績效評估及不良分析 統計技術之應用 第三页，共二十四页。 1.??????????? 柏拉圖（決定管制重點） 2.??????????? 統計檢定 3.??????????? 管制圖 4.??????????? 抽樣計劃 SPC使用之統計技術 第四页，共二十四页。 製程改善循環 第五页，共二十四页。 共同原因與特殊原因之變異 共同原因： 製程中變異因素是在統計的 管制狀態下，其產品之特性 有固定的分配。 特殊原因： 製程中變異因素不在統計的 管制狀態下，其產品之特性 沒有固定的分配。 第六页，共二十四页。 共同原因與特殊原因之對策 1.??? 特殊原因之對策（局部面） 通常會牽涉到消除產生變異的特殊原因 可以由製程人員直接加以改善 大約能夠解決15%之製程上之問題 2.??? 共同原因之對策（系統面） 通常必須改善造成變異的共同問題 經常需要管理階層的努力與對策 大約85%的問題是屬於此類系統 第七页，共二十四页。 製 程 能 力 指 標 製程準確度 Ca (Capability of Accuracy): Ca值在衡量製程之實際平均值與規格中心值(T)之一致性 實際中心值 - 規格中心值 Ca = ──────────── × 100％ 規　格　容　許　差 ＝ ( -SC) / (T/2) × 100％ 規格公差 = USL - LSL, 通常 ≠ UCL - LCL ：製程平均值 T：公差 Sc：規格中心 X X 第八页，共二十四页。 製程能力指標 製程精密度 Cp (Capability of Precision): 　 Cp在衡量製程之變異寬度與規格公差範圍相差之情形 Cp T CPU USL X X LSL = = - - - = - = - - - - 規格公差 雙邊規格時 或CPL 單邊規格時 6個標準差 3σ 3σ 6σ 第九页，共二十四页。 製程能力指標 製程能力指標Cpk，原來的意思為綜合Ca與Cp兩值之指標 Cpk = (1－│ Ca │) Cp 　 第十页，共二十四页。 掌握製程管制之主要因素 人(man) 機(machine) 料(material) 法(method) 第十一页，共二十四页。 製程能力等級判斷及處置建議－Cpk 第十二页，共二十四页。 管 制 圖 縱軸代表產品品質特性，以製程變化數據為分度橫軸代表產品的群體號碼、製造日期。 依照時間順序將點畫在圖上，再與管制界限比較以判別製程是否穩定。點子超出管制界限時，應馬上採取行動。 點子雖然在管制界限內，但呈現特殊排列現象，也要採取行動。 第十三页，共二十四页。 第十四页，共二十四页。 管制圖導入之前置動作 　定義製程並決定品質特性。 　決定量測品質特性之系統。 　以直方圖，層別法等先對製程作　初步分析。 　判斷製程是否已穩定。 　儘可能降低不必要之變異。 第十五页，共二十四页。 管 制 圖 之 建 立　　　 一、建立解析用管制圖 　　1.選定管制項目 2.選擇樣組大小，頻率及組數 　　3.搜集數據，並按生產或測定順序記入 　　4.計算各組 及R 　　5.選定適宜之座標尺寸 　　6.繪點于管制圖上 　　7.計算中心線及管制界限，並予繪出 　　8.初步解析 　　─繪直方圖 ─是否呈常態分配 　 ─與規格比較 第十六页，共二十四页。 一、 管制圖