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微安表三种接线方式 试品表面泄漏电流较大时,应加屏蔽环予以消除。 微安表接于高压侧:不受高压对地杂散电流的影响;对微安表及引线需加屏蔽;读数安全、切换量程带来不便。 第三十一页,共七十八页。 微安表三种接线方式 微安表接于低压侧:读数安全、切换量程方便;要求被试品的接地端能与地分开。 第三十二页,共七十八页。 微安表三种接线方式 试验装置本身泄漏电流较大,应在未接入试品之前记录试验电压各阶段的泄漏电流,然后在试验结果中分别减去这些泄漏电流值。 第三十三页,共七十八页。 微安表的保护 第三十四页,共七十八页。 影响测量结果的主要因素 1、高压连接导线;2、表面泄漏电流;3、温度;4、残余电荷;5、加压速度;6、微安表接位置;7、试验电压极性。 第三十五页,共七十八页。 测量时的操作规定 1、正确接线; 2、升压过程中应密切观测微安表读数,缓慢升压以避开吸收电流; 3、测量过程中若有击穿、闪络等异常现象发生,应迅速降压,并断开电源; 4、实验完毕,降压、断开电源,并对被试设备充分放电; 5、按照规定做好试验记录。 第三十六页,共七十八页。 1)指针来回摆动 产生原因:电源波动、直流脉动系数大、试验回路和被试设备有充放电现象。 若摆动不大,又不影响读数,可取其平均值;若摆动很大,影响读数,则可增大主回路和保护回路中的滤波电容的电容量。 2)指针周期性摆动 产生原因:回路存在反充电、被试设备绝缘不良产生周期性放电。 测量中可能出现的问题 1、从微安表中反映出来的情况 第三十七页,共七十八页。 3)指针突然冲击 若向小冲击,可能是电源回路引起的;若向大冲击,可能是试验回路或被试设备出现闪络或产生间歇性放电引起的。 4)指针指示数值随测量时间而发生变化 若逐渐下降,则可能是由于充电电流减小或被试设备表面绝缘电阻上升所致;若逐渐上升,往往是被试设备绝缘老化引起的。 5)接好线后,未加压时,微安表有指示 这可能是外界干扰太强或地电位抬高引起的。 第三十八页,共七十八页。 2、从泄漏电流数值上反映出来的情况 1)泄漏电流过大 设备绝缘不佳或屏蔽不好。首先应检查实验设备和屏蔽;若确认无误,则说明被试设备绝缘不良。 2)泄漏电流过小 检查线路和微安表(是否线路接错、微安表保护部分分流或有断脱现象)。 3)当采用微安表在低压侧读数,且用差值法消除误差时,可能会出现负值。 这可能是由于高压线过长、空载时电晕电流大所致。因此高压引线应当尽量粗、短、无毛刺 第三十九页,共七十八页。 1、设备较轻便; 2、绝缘无介质极化损失; 3、可制作伏安特性曲线; 4、可以兼做泄漏电流测量; 5、试验电压高,易于发现局部缺陷。 二、直流耐压试验 特点: 直流与交流性质不同,两者不能相互代替 第四十页,共七十八页。 1、试验电压的确定 直流耐压试验的外施电压数值通常应参考交流耐压试验电压和交、直流下击穿电压之比,主要是根据运行经验确定。(3UN、2.5UN、2UN、UN) 2、实验电压极性 规程规定施加电压极性为负极性。 直流耐压试验比交流耐压试验的时间长 直流耐压试验应注意的问题 第四十一页,共七十八页。 1、tan?测量原理:西林电桥 正接线:要求被试设备能与地分离。 3 介质损耗角正切值测量 第四十二页,共七十八页。 反接线:被试设备一端接地,要求电桥本体有足够的绝缘。 为保证安全应采取的措施:1、电桥和操作者整体绝缘或使用“法拉第笼”;2、通过绝缘连杆调节。 第四十三页,共七十八页。 对角线接线:被试设备一端接地,而且电桥没有足够的绝缘。 第四十四页,共七十八页。 测量原理:容性电流与全电流的关系。 2、tan?测量原理:角差法(非平衡法) 第四十五页,共七十八页。 1、外界电场干扰 2、高压标准电容器质量劣化 3、试品电容量的变化(关注tan?参数的同时,也应注意试品电容量的变化) 4、表面泄漏电流 5、空气湿度 6、接地 tan?测试中需要注意的事项: 第四十六页,共七十八页。 7、电桥引线的影响。 (1)引线长度(对小容量试品影响较大,应引起重视) (2)高压引线与试品夹角(对小容量试品影响较大,应引起重视) (3)引线电晕(电晕损耗通过杂散电容将被计入被试品的tan ? 内) (4)引线接触不良(相当于被试支路中串联一个附加电阻) 第四十七页,共七十八页。 1、“平衡法”测量可以采用的措施: (1)加设屏蔽 (2)采用移相电源 (3)倒相法 2、“角差法”测量时可以采用的措施: (1)采用异频电源 (2)补偿法 tgδ测量中的抗干扰措施 第四十八页,共七十八页。 1、温度: tgδ值受温度影响而变化,为了比较试验结果,对同一设备在不同温度下的变化必须将结果归算到一个巩固的
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