RD及其晶体结构的相关知识.docx

XRD 及其晶体构造的相关学问 X 射线荧光衍射： 利用初级 X 射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级 X 射线)而进展物质成分分析和化学态争论的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为 X 射线光谱法(波长色散)和 X 射线能谱法(能量色散)。 当原子受到 X 射线光子(原级 X 射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而消灭空位，原子内层电子重配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级 X 射线光子，此即 X 射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X 射线荧光的波长对不同元素是特征的。 依据色散方式不同，X 射线荧光相应分为 X 射线荧光光谱仪(波长色散)和 X 射线荧光能谱仪(能量色散)。 X 射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级 X 射线。它由高压发生器和 X 光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的 X 射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等局部组成。通过测角器以 1∶2 速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的 X 射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将 X 射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪耀计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅 度分析器、显示局部组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机， 进展联机处理而得到被测元素的含量。 X 射线荧光能谱仪没有简单的分光系统，构造简洁。X 射线激发源可用 X 射线发生器，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与 X 射线荧光光谱仪一样。 X 射线荧光光谱仪和 X 射线荧光能谱仪各有优缺点。前者区分率高，对轻、重元素测定的适应性广。对凹凸含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的 X 射线探测的几何效率可提高 2~3 数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的 X 射线同时进展能量区分(定性分析)和定量测定。对于能量小于 2 万电子伏特左右的能谱的区分率差。 X 射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达 10-5~10-6 克/克(g/g)，对很多元素可测到 10-7~10-9g/g，用质子激发时，检出可达 10-12g/g； 强度测量的再现性好；便于进展无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范 围包括原子序数 Z≥3 的全部元素。除用于物质成分分析外，还可用于原子的根本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的争论。 步进扫描 试样每转动一步(固定的Δ θ )就停下来，测量记录系统开头测量该位置上的衍射强度。强度的测量也有两种方式：定时计数方式和定数计时方式。然后试样再转过一步，再进展强度测量。如此一步步进展下去，完成指定角度范围内衍射图的扫描。用记录仪记录衍射图时，承受步进扫描方式的优点是不受计数率表 RC 的影响，没有滞后及 RC 的平滑效应，区分率不受 RC 影响；尤其它在衍射线强度极弱或背底很高时特别有用，在两者共存时更是如此。由于承受步进扫描时，可以在每个θ 角处作较长时间的计数测量，以得到较大的每步总计数，从而可减小计数统计起伏的影响。 步进扫描一般消耗时间较多，因而须认真考虑其参数。选择步进宽度时需考虑两个因素：一是所用接收狭缝宽度，步进宽度至少不应大于狭缝宽度所对应的角度；二是所测衍射线线形的锋利程度，步进宽度过大则会降低区分率甚至掩盖衍射线剖面的细节。为此，步进宽度不应大于最锋利峰的半高度宽的 1/2。但是，也不宜使步进宽度过小。步进时间即每步停留的测量时间，假设长一些，可减小计数统计误差，提高准确度与灵敏度，但将损失工作效率。 ·定速连续扫描 试样和接收狭缝以角速度比 1：2 的关系匀速转动。在转动过程中，检测器连续地测量 X 射线的散射强度，各晶面的衍射线依次被接收。计算机掌握的衍射仪多数承受步进电机来驱动测角仪转动，因此实际上转动并不是严格连续的， 而是一步一步地(每步 0.0025°)跳动式转动，在转动速度较慢时尤为明显。但是检测器及测量系统是连续工作的。 连续扫描的优点是工作效率较高。例如以 2θ每分钟转动 4°的速度扫描， 扫描范围从 20~80°的衍射图 15 分钟即可完成，而且也有不错的区分率、灵敏度和准确度，因而对大量的日常工作(一般是物相鉴定工作)是格外适宜的。但在使用长图记录仪记录时，记录图会受到计数率表 RC 的影响，须适当地选择时间常数。 ·脉冲计数率 在衍射仪方法中，X 射线的强度用脉冲计数率表示，单位为每秒脉冲数(cps)。检测器在单位时间输出的平均脉冲数，直接打算于检测器在单位时间接收的光子数。假设检测器的量子效率为 100%，而系统(放大器和脉冲幅度分析器等)又没有