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珠宝玉石鉴定方法 鉴定方法 折射率、双折射率 （一）阿贝型宝石折射仪 1、方法原理 当光从折射率为n的被测样品进入折射率为N的棱镜时，入射角为i，折射 角为Y，贝U sin i （1） = （1） sinY 在反射型折射仪中，入射角i =90° 在反射型折射仪中，入射角i =90° 代入 （1）式得 1N = (2) SinY n (3)n = N?sinY (3) 棱镜的折射率N为已知道，通过测量折射角Y，即可求出被测样品的折射 率n。 可测量样品折射率的范围取决于N值及接触折射率油的折射率值。 用双折射率样品的最大值减去最小值，即为双折射率。实测时，受样品定向 的随机性影响，所测的双折射值忍样品的理论值。 2、 仪器 宝石折射仪，精密度为±0.002，测量范围：1.350?1.800。 3、 操作步骤 清洗或擦拭被测样品。 将适量折射率大于样品的折射率油滴在样品台一侧的金属台上。 将样品的抛光平面或品面朝下，轻放于油上。 轻推样品全样品台中央。 由观测目镜读出明暗交界线的刻度即为折射率值。折射率大于1.80时， 用＞1.80表示。 仁不断转动样品的偏光片，非均质体可测得一个最大值和一个最小值，两值之差 则为双折射率。 注1：遇下列情况之一时，折射率不作为重要鉴定项目： 样品过小（平面直径＜ 2mm）时不易测定折射率。 镶嵌金属超过样品平面时所测折射率误差大。 样品没有光滑平面时不能测定折射率值。 折射率值高于折射仪测量范围。 注2：遇下列情况之一时，双折射率不作为重要鉴定项目： 样品过小时不能测定双折射率值。 样品为弧面形时不易测定折射率。 样品为集合体时不能测定双折射率值。 （二）反射型宝石折射仪 1、方法原理 样品的表面反射率与折射率存在下列近似函数关系，即： （n-N） 2 反射率= （n+N） 2 式中：n--样品的折射率 N--周围介质的折射率（空气的N Q1）。 采用近红外光做光源，测得抛光良好样品平面的反射率值，计算或仪器自动 换算成折射率值。 2、仪器 反射型宝石折射仪，精确度为±0.005，测量范围为1.300?2.999。 3、操作步骤 清洗或擦拭被测样品表面。 将样品的抛光平面朝下，水平放于折射仪测试窗口上，将样品罩盖于样品上。 水平旋转样品一周，从读数盘上读出样品折射率值(单折射)或最大、最小的 两个折射率值(双折射)。 被测样品的抛光平面必须大于测量窗口，而且光洁度较好，否则影响测量精度。 珠宝玉石鉴定标准 范围 本标准规定了珠宝玉石的术语，鉴定方法及鉴定标准。 本标准适用于珠宝玉石实验室出具证书或报告；也适用于珠宝玉石贸易，如公司、商店、展览及展销 会、拍卖行等贸易活动；海关、保险公司及珠宝玉石进出口应参照执行。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。 本标准出版时，所示版本均为有效，所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最 新版本的可能性。 GB 614-88化学试剂折光率测定通用方法 GB611-88化学试剂密度通用测定方法 GB/T 16552-1996珠宝玉石名称 3术语(1) 结晶状态 crystalline state 指样品是否为结晶物质。分为：晶质体和非晶质体。晶质体还可分为晶体(可有双晶)和晶质集合体。 晶系 crystal system 按晶体的对称程度分为七个晶系：等轴晶系(cubic system)、六方晶系(hexagonal system)、四方晶系 (tetragonal system)、三方晶系(trigonal system)、斜方晶系(o rthorhombicsystem )、单斜晶系(monoclinic system)、三斜晶系(triclinic system)。 晶体习性 crystal habit 晶体或晶质集合体通常所具有的形状、表面特征等。 光泽 luster 指珠宝玉石反射光的能力和表面反射光线所表现的特点。光泽从强到弱有：金属光泽(metallic luster)、半金属光泽(submetallic luster)、金刚光泽(adamantine luster)、玻璃光泽 (vitreous luster)；由集合体或表面特征所引起的特殊光泽有：油脂光泽(greasy luster)、 蜡状光泽(waxy luster)、珍珠光泽(pearly luster)、丝绢光泽(silky luster)。 解理/断口/裂理 cleavage / fracture 晶体受力后沿晶格面网方向产生的应力面为解理；按应力面的平滑程度及产生的难易程度分为极完全、 完全、中等、不完全四个等级。 晶体受力后产生的无定向非平面的破裂为断口；主要断口类型有参差状断口，贝壳状断口。 晶体受力后沿双晶结合