下一代蜂窝测试技术.docxVIP

下一代蜂窝测试技术 本文主要介绍器件测试模式的功能对测试仪器的要求，设计人员需要专用的非信令测 试设备解决方案，以便顺利地引入新的非信令芯片组，最终提供全新的、更快速的测试技术。 与此同时，本文将介绍如何选择正确的非信令测试解决方案，并深入分析信令和非信令测试 仪器并存的局面。当芯片组集成了快速排序非信令测试模式，尤其是使用预定义的测试序列 进行验证时，设计人员必须引入下一代非信令测试仪器，以便对射频参数进行测试。 介绍 目前，非信令技术正方兴未艾，主要用于缩减制造测试时间和成本，并且适用于广泛 的技术。芯片组厂商正在想方设法为手机制造商提供此类能力。因此开发针对特定芯片组的 专用测试模式，尤其是适合蜂窝验证测试的测试模式已经引起了市场的重视。 此前的文章探讨了不同测试模式中非信令功能的演进和变化程度，并引入了两个术语 来描述功能范围。它们有助于解释测试工程师缩减测试时间的潜力，而且分别代表非信令领 域潜力水平的一极： .非信令 .快速排序非信令 快速排序非信令测试模式能够显著地优化设计，最大限度地减少测试时间和成本。 受芯片组非信令功能开发这一趋势的影响，手机制造商正在寻求指导，以便最大限度 地利用这些测试模式的潜力。本文将讨论这些测试模式如何影响测试仪器的选择，包括研发 测试和制造测试。 集成这些新的测试模式通常需要引入新的测试技术。对于非信令测试，引入新的下一 代非信令测试设